X線斷層融合成像在人工耳蝸植入術(shù)后的應(yīng)用.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、目的:本文通過對64例人工耳蝸植入患者的數(shù)字X線攝片和X線斷層融合成像的影像學比較,探討X線斷層融合技術(shù)在人工耳蝸植入術(shù)后的應(yīng)用價值。
  方法:整理2012年9月-2012年12月間于我科行CI術(shù)后的數(shù)字X線攝片和X線斷層融合成像檢查,一共64例成功完成手術(shù),所有患者均由單一醫(yī)師完成。并將兩種攝片方法所測得的植入的電極的數(shù)目分別與術(shù)中記錄的植入電極的數(shù)目相對比。
  結(jié)果:64例人工耳蝸植入術(shù)后用數(shù)字X線攝片方法,測得植入

2、的電極數(shù)目與術(shù)中記錄的情況出現(xiàn)13例誤差,誤差率為20.3%,而用X線斷層融合成像計算植入的電極數(shù)目與術(shù)中記錄的完全相同。而且 X線斷層融合成像可以清楚顯示植入電極的臨近結(jié)構(gòu)。
  結(jié)論:X線斷層融合成像不但可以清楚呈現(xiàn)植入電極的形態(tài)、走向,了解電極有無扭曲、打折,而且可以對植入的電極數(shù)目做到精確計數(shù),另外還能夠清晰顯示電極的臨近結(jié)構(gòu)。而數(shù)字X線攝片從上述方面比較,完全沒有優(yōu)勢。X線斷層融合技術(shù)沒有特殊體位的要求,攝片時間短,輻射

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