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文檔簡介
1、從生產(chǎn)者角度對FPGA測試技術進行深入而全面的研究,是保證制造出高可靠性FPGA芯片的一個重要前提。鑒于此,本文重點討論了FPGA的測試問題。首先對現(xiàn)有FPGA測試方法進行分析,指出其存在的主要問題:1、基于ATE的測試方法需要昂貴外部輔助測試設備,受芯片封裝引腳數(shù)量限制;2、基于BIST的分治法編程次數(shù)較多,進行完全測試需要測試時間較長。然后提出一種基于BIST的多資源聯(lián)合測試方法,該方法可以對FPGA芯片中互連資源和可編程邏輯資源同
2、時進行測試。最后驗證了其可行性。根據(jù)研究的深入和遞進關系本文主要包含以下幾方面內(nèi)容:
1、針對上述問題,以FPGA內(nèi)部資源中最小相同單元做為著眼點,采用一種不同于分治法的全新劃分方式,構建出一組多資源聯(lián)合測試的故障模型。利用該組故障模型可以對FPGA的可編程邏輯資源和互連資源同時進行測試。
2、提出一種可控的遍歷型測試向量設計方法。它可以在控制碼的控制下跳過對被測電路沒有貢獻的測試向量,僅產(chǎn)生能夠檢測被測電路故障的測
3、試向量序列,進而達到減少測試時間、降低測試功耗的目的。
3、設計和實現(xiàn)了一種與BIST控制器緊密結(jié)合的輸出響應分析器。它完全不同于傳統(tǒng)的基于線性反饋移位寄存器的輸出響應分析設計方法,所需硬件開銷和傳統(tǒng)方法一樣非常少,但傳統(tǒng)輸出響應分析器設計方法僅能對故障進行檢測,不能診斷其具體位置和類型。文中的輸出響應分析器不但能檢測出故障,還能對故障進行診斷。
4、以第1點中的故障模型為出發(fā)點,以第2、3點中的設計結(jié)果做為關鍵的組
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