基于偽隨機(jī)測試的混合信號BIST研究.pdf

1、隨著微電子制造工藝和先進(jìn)設(shè)計(jì)技術(shù)的迅速發(fā)展,使得包括各種數(shù)字、存儲器、模擬和混合信號內(nèi)核的系統(tǒng)可集成在單個(gè)芯片上,即系統(tǒng)芯片SOC(System-on-a-Chip),給混合信號系統(tǒng)的發(fā)展帶來了強(qiáng)大的動力,但也對測試設(shè)備的速度和性能提出了更高的要求,急需運(yùn)用新的理論、新的方法來解決此問題。
　　BIST被認(rèn)為是解決模擬混合信號電路測試有效的方法之一,它的基本原理是由電路自己生成測試矢量,而不需外部施加測試矢量,并依靠自身邏輯來判斷

2、待測電路有無故障。它不僅克服了外部自動測試設(shè)備低速測試時(shí)無法檢測出實(shí)時(shí)故障的問題,而且提供了更便捷和更有效的測試方法。因此,內(nèi)建自測試近年來不斷受到人們的重視,并已成為研究的熱門課題。本論文來源于廣西區(qū)自然科學(xué)基金項(xiàng)目“SOC中的MSCBIST偽隨機(jī)測試方法研究”,本文研究了偽隨機(jī)測試技術(shù),用LFSR生成偽隨機(jī)序列作為測試激勵(lì),用乘累加器與比較器作為響應(yīng)分析器,構(gòu)建了混合信號BIST結(jié)構(gòu),計(jì)算輸入激勵(lì)信號與輸出響應(yīng)序列的互相關(guān)函數(shù)求取特