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1、系統(tǒng)芯片間對(duì)數(shù)據(jù)傳輸速率的要求不斷提高,使得串行器/解串器(Serializer and Deserializer,SerDes)技術(shù)得到了越來(lái)越多的關(guān)注。由于測(cè)試設(shè)備帶寬需大于信號(hào)速率,且探針接入會(huì)對(duì)信號(hào)產(chǎn)生影響,因而對(duì)高速SerDes(HSS)功能芯片知識(shí)產(chǎn)權(quán)(IP)進(jìn)行誤碼率與眼圖的測(cè)試成為挑戰(zhàn)。
為了對(duì)高速信號(hào)眼圖測(cè)試,本論文設(shè)計(jì)了片上眼開監(jiān)視器電路。相比于傳統(tǒng)的基于模板的二維眼開監(jiān)視器電路,本論文提出的設(shè)計(jì)方案無(wú)需進(jìn)
2、行初始采樣時(shí)鐘與眼圖中心對(duì)齊的操作,測(cè)試過(guò)程設(shè)置與測(cè)試結(jié)果記錄由數(shù)字控制模塊完成。所提出的片上眼開監(jiān)視器方案具有獲得一個(gè)周期內(nèi)信號(hào)眼圖打開大小信息的特點(diǎn)。在TSMC65nm工藝下,片上眼開監(jiān)視器可完成對(duì)單鏈路12.5Gbps信號(hào)眼圖的測(cè)試,垂直偏差20mV,水平偏差4ps。
為了實(shí)現(xiàn)對(duì)HSS電路的誤碼率測(cè)試,本論文設(shè)計(jì)了片上偽隨機(jī)碼的產(chǎn)生檢測(cè)電路與測(cè)試路徑。為了實(shí)現(xiàn)對(duì)核內(nèi)寄存器的讀寫,本論文設(shè)計(jì)了基于串口與JTAG協(xié)議的接口訪
3、問(wèn)電路。在TSMC65nm工藝下,8位并行產(chǎn)生模塊運(yùn)行頻率為3.2GHz,8位檢測(cè)模塊運(yùn)行頻率為1.8GHz,可應(yīng)用于12.5Gbps的HSS電路中進(jìn)行誤碼率的測(cè)試。
為了實(shí)現(xiàn)對(duì)仿真系統(tǒng)中誤碼率的測(cè)試,本論文提出了基于噪聲模型和統(tǒng)計(jì)理論的系統(tǒng)誤碼率評(píng)價(jià)方法。通過(guò)矩估計(jì)量與樣本容量的選取,可對(duì)仿真系統(tǒng)的誤碼率進(jìn)行快速評(píng)價(jià)?;谖覀兲岢龅慕y(tǒng)計(jì)測(cè)試信噪比的方法,當(dāng)樣本容量選為3100,此時(shí)樣本方差估計(jì)總體方差的誤差在5%內(nèi)的置信度達(dá)
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