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1、移相干涉術(shù)(PSI)作為快速、非接觸的精密測(cè)量手段,已經(jīng)廣泛地應(yīng)用于光學(xué)零件、光學(xué)系統(tǒng)、精密表面的檢測(cè)和其它與光程差參數(shù)相關(guān)的物理量的測(cè)量(如溫度場(chǎng)、密度場(chǎng)等).該文首先介紹了移相干涉術(shù)的基本原理和特點(diǎn),對(duì)其中的一些關(guān)鍵技術(shù)問題進(jìn)行了研究.論文在對(duì)波面解包進(jìn)行了詳細(xì)理論分析的基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)了相位解包算法,編制程序?qū)?shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行了處理.提出了分析靜態(tài)干涉圖的新方法——虛光柵莫爾條紋法,該方法把移相干涉術(shù)和莫爾條紋法兩者相結(jié)合,能夠有效的解決
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