再發(fā)性16p11.2微缺失在不明原因智力低下發(fā)育遲緩患兒中的患病率和表型異質(zhì)性研究

1、 分類號： 密級： U D C ： 學號： 406520612433 南 昌 大 學 碩 士 研 究 生 學 位 論 文 再發(fā)性 再發(fā)性 16p11.2 微缺失在不明原因智力低下 微缺失在不明原因智力低下/發(fā)育遲緩 發(fā)育遲緩患兒中的患病率和表型異質(zhì)性研究 病率和表型異質(zhì)性研究 The pr

2、evalence and phenotypic heterogeneity of recurrent 16p11.2 microdeletion in children with intellectual disability/ developmental retardation 李小燕 李小燕 培養(yǎng)單位（院、系） ：江西省兒童醫(yī)院，首都兒科研究所 指導教師姓名、職稱：鐘建民教授 指導教師姓名、職稱：陳曉麗副研究員 申請學位的學科門類：

3、醫(yī)學 學科專業(yè)名稱：兒科學 論文答辯日期： 2015-6-5 答辯委員會主席： 李國林 評閱人： 韓虹 陳燕惠 2015 年 6 月 摘要 II 摘 要 目的 目的： 研究不明原因智力低下/發(fā)育遲緩（ID/DD）患兒中再發(fā)性 16p11.2 微缺失綜合征患病率及再發(fā)性 16p11.2 微缺失綜合征表型異質(zhì)性；探索攜帶 16p11.2 微缺失者出現(xiàn)神經(jīng)精神發(fā)育異常的遺傳基礎(chǔ)。

4、方法 方法： 1、 收集 318 例首都兒研所附屬兒童醫(yī)院神經(jīng)內(nèi)科診治的不明原因 ID/DD 患兒，應用全基因組微陣列技術(shù)篩查是否存在 16p11.2 微缺失。 2、對確診再發(fā)性 16p11.2 微缺失綜合征的 3 名患者，收集其家系所有成員臨床資料，家系所有成員利用全基因組芯片或多重連接探針擴增技術(shù)篩查家系內(nèi) 16p11.2 微缺失。 3、 對兩個 16p11.2 微缺失家系， 進行全基因組 RNA 表達譜檢測， 利用 IPA、iRe

5、port 分析攜帶 16p11.2 微缺失組和不攜帶 16p11.2 微缺失組是否存在的差異基因表達。 4、 利用 Ion Torrent 半導體測序儀對 16p11.2 區(qū)域 25 個基因完成高通量平行測序。 結(jié)果 結(jié)果： 1、 318 例不明原因 ID/DD 患兒中檢測出 3 例再發(fā)性 16p11.2 微缺失綜合征，檢出率為 0.94%。 2、 對檢測為再發(fā)性 16p11.2 微缺失綜合征的 3 個患兒及其家系成員共 14 名進行篩

6、查，共發(fā)現(xiàn) 7 例攜帶 16p11.2 微缺失，其中 3 例臨床表型正常，4 例存在神經(jīng)精神發(fā)育異常，如孤獨癥譜系障礙、ID/DD。 3、 全基因組表達譜分析發(fā)現(xiàn)攜帶 16p11.2 微缺失者與不攜帶 16p11.2 微缺失者在 16p11.2 微缺失區(qū)域共有 7 個差異表達基因(SPN、ALDOA、 PPP4C、MVP、TAOK2、 KIF22 和 PAGR1)。 4、對患者與攜帶者及患者父母的二代測序數(shù)據(jù)進行對比分析，未發(fā)現(xiàn)患者攜帶