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文檔簡介
1、1有效期驗證報告產(chǎn)品名稱：動態(tài)心電記錄儀產(chǎn)品名稱：動態(tài)心電記錄儀申報人：申報人：xxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxxx3IC(塑料)斷開Al腐蝕0.56MOSIC（存儲器）短路氧化膜破壞0.30.35二極管短路PN結(jié)破壞（AuSi固相反應(yīng)）1.5晶體管短路Au的電遷移0.6MOS器件閥值電壓漂移發(fā)光玻璃極化1.0MOS器件閥值電壓漂移Na離子漂移至Si氧化膜1.21.4MOS器件閥值電壓漂移
2、SiSi氧化膜的緩慢牽引1.06.2濕度加速因子濕度的加速因子由Hallberg和Peck模型計算：其中，RHsress為加速試驗相對濕度，RHnmal為正常工作相對濕度，n為濕度的加速率常數(shù)，不同的失效類型對應(yīng)不同的值，一般介于23之間。6.3溫度變化加速因子溫度的加速因子由CoffinMason公式計算：其中，△Tsress為加速試驗下的溫度變化，△Tnmal為正常應(yīng)力下的溫度變化，n為溫度變化的加速率常數(shù)，不同的失效類型對應(yīng)不同的
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