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1、廈門大學(xué)碩士學(xué)位論文RAM芯片測試系統(tǒng)及其專用芯片設(shè)計(jì)姓名：李伍松申請學(xué)位級別：碩士專業(yè)：無線電物理學(xué)指導(dǎo)教師：郭東輝20050101iiAbstractAnewdebugsystemisdevelopedinourprojectftheanalysisperfmanceofRAMchipsakeyASICchipisdesignedfthenewsystem.Wecanusethenewsystemtoautomaticallydeb
2、ugtheexternalRAMsofelectronicsystems.Inthenewdebugsystemtestdatacanbereconfigureddifferenttestingroutescanbesetaccdingtothespecificdebugrequirementsitisofhighefficiencyhighcoverageconfigurability.Indertopresentthedevelop
3、mentprocessprincipleoftheASICchipthisthesisfirstlyistooutlinethegeneralmethodsofICchipdebugthendetailonthecircuitprinciplefaulttypesdebugmethodsofRAMchip.ConsideringthespecificsofexternalRAMchip’sfaultswehavemodifiedthed
4、irectaccessdebuggingmethodimplementeditinourASICchip.ThethesiswkconductsthedesignofourASICchipinatypicaltopdownway.AtfirstweillustratethegeneraldesignofthedebugsystemdefinethemajmodulesincludingCPUinterfacemoduledebugmod
5、uleRAMinterfacemodule.Afterthatwedetailondesignofeverymoduleincludedthedesignofdetailedfunctionaldiagramsstatemachineassociateinterfacetiming.WhereweusedVerilogHDLtodesignthefunctionsofourASICchipatRTLlevelimplementeditw
6、ithFPGAs.Theinnovationsofourwkarethat:AdebugmodulebasedontransactionientedverificationmethodsoffershighdebuggingspeedthemodifiedmethodofdirectaccessdebugnotonlycandetectfaultsofRAMcellssurroundingcircuitsbutalsoeffective
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