漏電保護(hù)器芯片專(zhuān)用測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與研究.pdf

1、從愛(ài)迪生發(fā)明電燈以來(lái)，人們的生活因?yàn)榫碗姸l(fā)生了巨大的變化。在現(xiàn)代的社會(huì)中，電力是人們應(yīng)用最為廣泛的一種能源，幾乎沒(méi)有任何人接觸不到以電力為能源的設(shè)備。雖然電力極大的推動(dòng)了人類(lèi)社會(huì)的發(fā)展，方便了人們的生活。但是如果處理不當(dāng)，則會(huì)危及人類(lèi)的生命安全。因此在人們的生活當(dāng)中需要一個(gè)保障，它就是——漏電保護(hù)器，而漏電保護(hù)器中核心部件就是漏電保護(hù)芯片。所以研究與設(shè)計(jì)漏電保護(hù)芯片變得尤為重要。
　　隨著可編程微處理器芯片的設(shè)計(jì)和集成電路制造工

2、藝的發(fā)展，芯片的特征尺寸從深亞微米量進(jìn)入到納米級(jí)，微電子芯片從大規(guī)模走向超大規(guī)模集成，集成電路系統(tǒng)的集成度和復(fù)雜度的持續(xù)增加要求更好、更有效的測(cè)試方法來(lái)保證VLSI的可靠操作性。不斷進(jìn)步的集成電路先進(jìn)設(shè)計(jì)和制造技術(shù)使VLSI的設(shè)計(jì)和制造周期越來(lái)越短，成本越來(lái)越低:同時(shí)，集成電路測(cè)試成本在集成電路總成本中所占的比重不斷增加。目前，VLSI的測(cè)試成本約占整個(gè)芯片總成本的35％-55％，測(cè)試時(shí)間約占整個(gè)芯片開(kāi)發(fā)周期的一半。集成電路測(cè)試的重要性

3、愈發(fā)突出。為了控制芯片的成本，已相繼開(kāi)發(fā)了新的測(cè)試方法、通用自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)、專(zhuān)用芯片測(cè)試儀。本論文就是基于FM2148漏電保護(hù)芯片專(zhuān)用測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與研究，主要包括:漏電保護(hù)器工作原理，漏電保護(hù)器的種類(lèi)、FM2148芯片介紹及其工作原理、FM2148專(zhuān)用測(cè)試儀硬件實(shí)現(xiàn)方案、FM2148專(zhuān)用測(cè)試儀的軟件實(shí)現(xiàn)、FM2148專(zhuān)用測(cè)試儀的性能評(píng)估。
　　FM2148專(zhuān)用測(cè)試儀采用MSP430F169作為主控MCU，論文中包含F(xiàn)M2