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1、南京航空航天大學(xué)碩士學(xué)位論文電路故障診斷可測(cè)性設(shè)計(jì)及低功耗測(cè)試研究姓名:邱航申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別:碩士專(zhuān)業(yè):電子科學(xué)與技術(shù)、電路與系統(tǒng)指導(dǎo)教師:王成華20070101電路故障診斷可測(cè)性設(shè)計(jì)及低功耗測(cè)試研究IIABSTRACTDuringthepast20yearsIntegratedCircuitsdevelopedwithconfmingtoMoe’sLawpertransistcostreductionisthebasisfMoe’sLaw
2、.HowevertestcapitalpertransistcostisnotscalingtheoverallICtestcostexpsseverely.LookingtothefuturewemustmeDesignftestabilitymethodstoreducethecostdifficultiesoftestsoDesignftestabilitybecomesmeimptant.Atthefirstofthispape
3、rbasedonthetheyofDDQIweresearchanalgithmfcircuitfaultdiagnosis.Thecircuitstructurethequiescentcurrentareusedtoanalyzelocatethefaultinthechipwhichavoidstocompilingthefaultdictionary.Fromthesimulationresultswecanmakeconclu
4、sionthatthealgithmcandiagnosethefaultintheanalogmixedsignalcircuit.Thealgithmcanquicklyaccuratelydeterminefaultsoastogaintimefsystemmaintenance.InthesecondpartwefirstdesignimplementcommonBIST(BuiltInSelfTest).Thenfocuson
5、thehotissuesoflowpowertestespeciallybuildinselftest.Thispaperisonthecurrentstatusoftheirresearchanindepthanalysisofthebreakdownthenprovidessolutionsundervariouscircumstanceoftheapplication.Indifferentcasewecantradeoffdif
6、ferentparameterchoosethebestsuitablelowpowerBISTsolution.AtlastweconsideranewBISTtestpatterngeneratthatcanhighlyreducethepowerconsumptionduringtestwithoutlosingcoverage.ByaddingsimpleinputonLFSR(LinearFeedbackShiftRegist
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