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文檔簡介
1、本文討論的內(nèi)容是針對中小規(guī)模液晶顯示應(yīng)用而設(shè)計的一款圖形顯示控制芯片，對該芯片的低功耗和可測性設(shè)計進行研究，提出了完整的低功耗和可測性設(shè)計方案。在不同的設(shè)計層次，結(jié)合使用了動態(tài)功耗管理、存儲器分塊、預(yù)計算技術(shù)等多種流行的低功耗設(shè)計技術(shù)，以極低的面積開銷十分有效的降低了芯片正常工作模式的功耗。芯片的測試采用掃描測試與MBIST測試相結(jié)合的方案。通過增加少許電路結(jié)構(gòu)，解決了由于內(nèi)部多時鐘以及多個嵌入式存儲器模塊的結(jié)構(gòu)帶來的影響可測性要求的問
2、題。全芯片總共構(gòu)造16條掃描鏈，使用Synopsys TetraMAX完成自動測試圖形生成(ATPG)。通過對錯誤仿真分析表明，掃描測試達到了較高的測試覆蓋率?？蓽y性設(shè)計中也充分考慮了低功耗的要求，如掃描測試狀態(tài)下關(guān)閉存儲器讀寫時鐘，禁止存儲器的讀寫操作；MBIST測試狀態(tài)下關(guān)閉所有功能模塊時鐘以及尚未工作的MBIST模塊時鐘。這些措施都十分明顯的地降低了測試過程中的功耗浪費。本文最后給出了可測性和低功耗設(shè)計下對LCD控制芯片分別進
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