基于DES理論的數(shù)模混合電路的可測(cè)試性與故障診斷研究.pdf

1、電路復(fù)雜度的增加使得電路測(cè)試領(lǐng)域面臨著前所未有的挑戰(zhàn)，更多的電路同時(shí)包含了數(shù)字和模擬兩種信號(hào)。離散時(shí)間系統(tǒng)理論(DES-DiscreteEventSystem)把數(shù)?；旌想娐分袛?shù)字/模擬信號(hào)統(tǒng)一在同一個(gè)數(shù)學(xué)模型下，有效的覆蓋目前大部分類型的電路測(cè)試問(wèn)題，在一定程度上解決了數(shù)?；旌想娐饭收显\斷困難的問(wèn)題。因此本文應(yīng)用該理論對(duì)數(shù)?；旌想娐返臓顟B(tài)和事件之間的映射關(guān)系進(jìn)行理論分析和研究，尋求待測(cè)數(shù)?；旌想娐返淖钚y(cè)試集和固障特征字典。

2、本文的主要工作如下： ◆研究了在DES理論的框架內(nèi)對(duì)數(shù)模混合電路進(jìn)行可測(cè)試性與故障診斷研究的數(shù)學(xué)模型。 ◆在基于DES理論的電路測(cè)試中，一個(gè)重要的任務(wù)就是為了以較小的代價(jià)來(lái)完成測(cè)試，需要找到電路測(cè)試的最小測(cè)試集。本文提出了利用混沌搜索及混沌遺傳算法來(lái)實(shí)現(xiàn)最小測(cè)試集的求取，并通過(guò)編程實(shí)現(xiàn)了該算法。同時(shí)對(duì)現(xiàn)有的幾種求取最小測(cè)試集的算法進(jìn)行了比較分析。 ◆將DES理論的模型應(yīng)用到實(shí)際電路中，采用EDA工具M(jìn)ultisi