基于多信號(hào)特征模擬電路可測(cè)性分析與故障診斷.pdf

1、隨著芯片集成度的提高和可用測(cè)點(diǎn)的減少,對(duì)電路可測(cè)性分析與故障診斷變得越來越困難。而對(duì)于模擬電路,由于非線性特性、器件容差因素的影響,可測(cè)性分析方法的研究進(jìn)展緩慢?，F(xiàn)有的方法常提取測(cè)點(diǎn)上的單一信號(hào)特征進(jìn)行分析,并基于電路的傳遞函數(shù)等方法來進(jìn)行模糊組區(qū)分。由于已有方法信息提取不完全,在電路可測(cè)性分析中,基于模糊組的分析方法常有效率低,錯(cuò)誤率高的缺點(diǎn)。因此本文提出采用測(cè)點(diǎn)上多個(gè)特征進(jìn)行可測(cè)性分析與故障診斷的新方法,研究的重點(diǎn)分為多特征模型下的

2、可測(cè)性指標(biāo)計(jì)算,模糊組分析和故障診斷,可測(cè)性分析軟件設(shè)計(jì)4大方面:
　　1.可測(cè)性指標(biāo)分析。為了使測(cè)點(diǎn)上的信號(hào)使用更加充分,本文研究如何采集測(cè)點(diǎn)上的多個(gè)特征進(jìn)行可測(cè)性指標(biāo)計(jì)算。文中首先討論將故障字典技術(shù)與多特征量技術(shù)相結(jié)合進(jìn)行可測(cè)性指標(biāo)分析。之后又討論將多特征量和多信號(hào)模型相結(jié)合進(jìn)行可測(cè)性指標(biāo)分析。通過實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)該方法能夠達(dá)到更好的可測(cè)性分析結(jié)果并且也適用于具有容差的電路。
　　2.獲取模糊組。本節(jié)首先通過理論分析討論了時(shí)域和

3、頻域上特征量的優(yōu)選,根據(jù)理論分析發(fā)現(xiàn)在時(shí)域上峰值時(shí)間對(duì)應(yīng)的電壓值,峰值時(shí)間和調(diào)節(jié)時(shí)間是近最優(yōu)的特征量組合。在頻域上放大倍數(shù)和過渡帶是最優(yōu)的特征量組合。其次分析電路中不能檢測(cè)的器件和模糊組與所選特征函數(shù)之間的關(guān)系。通過實(shí)驗(yàn)和其它方法的對(duì)比可證明該方法能夠獲得準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果并且計(jì)算過程較簡(jiǎn)單。同時(shí)在文中提出用閾值來處理電器件容差問題,該閾值找到了兩個(gè)器件特征函數(shù)之間的模糊區(qū)域,該區(qū)域?qū)莶铍娐返墓收显\斷具有重要的指導(dǎo)意義。
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