PLA2G6 SNPs與PD發(fā)病風險的相關(guān)性研究及PLA2G6酶活性下降導致細胞凋亡的研究.pdf

1、研究背景:PLA2G6基因位于22q13.1，其編碼的蛋白質(zhì)稱為iPLA2 VIA或iPLA2β，此基因?qū)е翽D的發(fā)病機制尚無報道。iPLA2β是磷脂酶A2(PLA2)的一種，對于維持膜的流動性具有重要的作用。
　　研究目的:本部分實驗主要研究iPLA2β酶活性下降是否通過損傷線粒體而導致細胞凋亡的發(fā)生。
　　研究方法:本部分主要運用了MTT實驗、流式細胞術(shù)，電鏡觀察、Western Blots實驗等檢測了與線粒體及細胞凋亡

2、相關(guān)的指標。
　　實驗結(jié)果:1.MTT實驗發(fā)現(xiàn)不同濃度S-BEL預孵育SH-SY5Y細胞可導致細胞活性出現(xiàn)不同程度的下降。2.運用流式細胞儀檢測發(fā)現(xiàn)不同濃度S-BEL預孵育SH-SY5Y細胞可以導致線粒體膜電位下降。3.運用電鏡檢測發(fā)現(xiàn)不同濃度S-BEL預孵育SH-SY5Y細胞可以導致線粒體形態(tài)發(fā)生改變及細胞核固縮等改變。4.Western Blots檢測發(fā)現(xiàn)不同濃度S-BEL預孵育細胞可以導致SH-SY5Y細胞線粒體細胞色素C釋

3、放入細胞漿內(nèi)。5.Western Blots檢測發(fā)現(xiàn)不同濃度S-BEL預孵育細胞可以導致SH-SY5Y細胞caspase9、caspase3活化。6.運用Annexin-PI檢測發(fā)現(xiàn)不同濃度S-BEL預孵育細胞均可以導致SH-SY5Y細胞發(fā)生細胞凋亡。
　　結(jié)論:iPLA2β酶活性下降可以通過線粒體途徑導致細胞凋亡。當然本部分實驗僅是細胞水平的研究，進一步的動物模型仍在構(gòu)建中。
　　研究背景:PLA2G6基因突變可導致嬰兒神

4、經(jīng)軸索變性病(INAD，infantile neuroaxonal dystrophy)及常染色體隱性遺傳性PD，因為部分INAD病人和常染色體隱性遺傳性早發(fā)性帕金森綜合征患者在MRI上腦內(nèi)蒼白球區(qū)域可見鐵離子沉積，因此也被稱作腦內(nèi)鐵離子沉積性疾病-2型(Neurodegenerative disorders with brain ironaccumulation，NBIA-2)。散發(fā)性PD病人腦內(nèi)黑質(zhì)(SN)區(qū)域的鐵水平增高已被證實，

5、且已被證明為散發(fā)性PD的重要發(fā)病原因之一。鐵離子增高可以導致細胞內(nèi)活性氧水平增高、加重線粒體的損傷從而導致細胞凋亡的發(fā)生。
　　研究目的:本部分主要研究iPLA2β酶活性下降是否會導致鐵離子沉積、鐵離子代謝障礙從而導致細胞凋亡。
　　研究方法:本部分主要運用Perls鐵染色方法觀察是否存在鐵離子沉積、運用Western Blots方法觀察鐵離子代謝相關(guān)蛋白的變化。
　　研究結(jié)果:1.運用Perls鐵染色方法發(fā)現(xiàn)不同濃度

6、S-BEL孵育SH-SY5Y細胞并不能導致細胞內(nèi)鐵離子沉積。2.對SH-SY5Y細胞預孵育鐵離子螯合劑去鐵敏，并不能降低S-BEL孵育所導致的caspase3活化帶的表達。3.不同濃度S-BEL孵育SH-SY5Y細胞并不能導致鐵離子轉(zhuǎn)運相關(guān)蛋白的表達調(diào)控發(fā)生障礙。4.不同濃度S-BEL孵育Neuro2a細胞并不能導致細胞內(nèi)鐵離子沉積。5.對Neuro2a細胞預孵育鐵離子螯合劑去鐵敏，并不能改變S-BEL孵育所導致的細胞存活率下降。6.運