數(shù)字化芯片微陣列點(diǎn)樣實(shí)驗(yàn)及穩(wěn)定性研究.pdf

1、本文以原創(chuàng)的微流體數(shù)字化技術(shù)為研究起點(diǎn)，對(duì)數(shù)字化微噴射點(diǎn)樣關(guān)鍵器件——微噴嘴的設(shè)計(jì)制作、數(shù)字化芯片微陣列點(diǎn)樣實(shí)驗(yàn)以及點(diǎn)樣穩(wěn)定性等關(guān)鍵問(wèn)題展開研究，為開發(fā)高端芯片微陣列噴射點(diǎn)樣儀打下了良好的基礎(chǔ)。 發(fā)明了用于數(shù)字化芯片微陣列點(diǎn)樣的新型微噴嘴，簡(jiǎn)單介紹了由玻璃精細(xì)加工工藝制成的新型微噴嘴的結(jié)構(gòu)性能、工藝特點(diǎn)、以及在點(diǎn)樣中的應(yīng)用效果。 搭建了數(shù)字化芯片微陣列點(diǎn)樣實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，進(jìn)行了采用新型微噴嘴的數(shù)字化芯片微陣列點(diǎn)樣及檢測(cè)評(píng)價(jià)實(shí)驗(yàn)

2、研究，結(jié)果表明所制備微陣列的密度、樣品點(diǎn)的尺度及均一性、陣列的規(guī)整性等具有良好的芯片微陣列點(diǎn)樣效果。 歸納了對(duì)穩(wěn)定性噴射需要考慮的問(wèn)題，明確了微噴嘴結(jié)構(gòu)參數(shù)、噴射液體物理特性、驅(qū)動(dòng)控制參數(shù)、外部因素等對(duì)數(shù)字化芯片微陣列點(diǎn)樣的穩(wěn)定性影響參數(shù)。對(duì)數(shù)字化芯片微陣列點(diǎn)樣的穩(wěn)定性進(jìn)行了大量實(shí)驗(yàn)研究，主要研究結(jié)果有：得出了新型微噴嘴比針狀微噴嘴數(shù)字化點(diǎn)樣穩(wěn)定性好的結(jié)論；為數(shù)字化芯片微陣列的穩(wěn)定點(diǎn)樣提供了微噴嘴結(jié)構(gòu)參數(shù)及相應(yīng)驅(qū)動(dòng)電壓、頻率等控