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1、隨著半導(dǎo)體制造工藝的進(jìn)步與革新,以及消費(fèi)電子產(chǎn)品對(duì)低功耗的要求進(jìn)一步提高,F(xiàn)lash存儲(chǔ)器無(wú)論是在存取速度和制作體積上,越來(lái)越不能滿(mǎn)足當(dāng)前的需求,新型阻變存儲(chǔ)器應(yīng)運(yùn)而生。其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、訪(fǎng)問(wèn)速度快的優(yōu)勢(shì)更加凸顯。但存在編程/擦除不成功、耐受性差等可靠性問(wèn)題,對(duì)測(cè)試設(shè)備的測(cè)試精度和速度提出了很高的要求。
目前商用的測(cè)試模塊主要存在兩個(gè)問(wèn)題:速度快精度差或速度慢精度高,均不能很好滿(mǎn)足測(cè)試需求。并且這種商用的測(cè)試模塊所配置的上位機(jī)軟件也
2、存在界面不夠友好和不能深度定制驅(qū)動(dòng)波形等缺點(diǎn),大大降低了測(cè)試的效率。
基于以上現(xiàn)狀,本文以設(shè)計(jì)快速、靈活、可靠的阻變存儲(chǔ)單元測(cè)試系統(tǒng)為目的,設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)阻變存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng),主要工作包括:
1、通過(guò)需求分析,電路原理設(shè)計(jì),軟件仿真驗(yàn)證,原理圖生成,PCB制作的過(guò)程完成系統(tǒng)硬件電路,使其具有可變驅(qū)動(dòng)波形的發(fā)生和返回信號(hào)的高速高精度測(cè)量的功能,達(dá)到輸出脈沖模式下脈沖寬度100ns~1ms可調(diào),幅度±5V可調(diào);直流模式下-5V
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