兼容1149.1和1149.7標(biāo)準(zhǔn)的測試控制器的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證

1、密 級桂林電子科技大學(xué)碩 士 學(xué) 位 論 文（全日制專業(yè)學(xué)位碩士） （全日制專業(yè)學(xué)位碩士）題 目 兼容 1149.1 和 1149.7 標(biāo)準(zhǔn)的測試控制器的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證（英文） （英文） Design and Verification of A Test ControllerCompatible with 1149.1 and 1149.7 Standards研 究 生 學(xué) 號: 1308304015研 究 生 姓 名: 尹亮亮指導(dǎo)教師姓名

2、、職務(wù) 指導(dǎo)教師姓名、職務(wù): 顏學(xué)龍 教授申 請 學(xué) 位 門 類: 工程碩士學(xué)科、專 學(xué)科、專 業(yè) 名 稱: 儀器儀表工程提 交 論 文 日 期: 2016 年 4 月論 文 答 辯 日 期: 2016 年 6 月摘 要I摘 要伴隨待測芯片集成度的不斷提高，傳統(tǒng)支持 IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)的測試系統(tǒng)很難滿足復(fù)雜芯片對測試與調(diào)試的要求，于是，在 IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上提出了 IEEE1149.7，其在兼容 IEEE 1

3、149.1 的同時，支持片上多 TAPC 結(jié)構(gòu)，而且增加了新的測試功能。為了能同時很好地完成對傳統(tǒng)目標(biāo)器件和日益復(fù)雜的目標(biāo)器件的測試工作， 本文在了解邊界掃描測試技術(shù)的研究背景、 研究意義以及其國內(nèi)外研究現(xiàn)狀的基礎(chǔ)上， 通過深入研究 IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)和 IEEE 1149.7 標(biāo)準(zhǔn)，查閱相關(guān)文獻(xiàn)，分析測試控制器的功能及其在邊界掃描測試系統(tǒng)中的作用。 最后， 研究開發(fā)兼容 IEEE 1149.1 和 IEEE1149.7 標(biāo)準(zhǔn)

4、的測試控制器。在設(shè)計(jì)過程中，采用自頂向下的設(shè)計(jì)方法，分模塊進(jìn)行設(shè)計(jì)?；?Altera 公司的Quartus II 應(yīng)用平臺，通過硬件描述語言 Verilog HDL 進(jìn)行控制器 IP 核的設(shè)計(jì)開發(fā)，最后通過 ModelSim SE 10.0c 仿真平臺進(jìn)行仿真驗(yàn)證。驗(yàn)證結(jié)果表明，所設(shè)計(jì)的控制器既能成功產(chǎn)生契合 IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的 JTAG 測試信號，又能完成 IEEE1149.7所要求的復(fù)位功能、選擇機(jī)制功能、TAP.