2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、隨著待測芯片的集成度越來越高,單芯片多核設(shè)計(jì)、片上系統(tǒng)和疊層裸片技術(shù)等成為芯片設(shè)計(jì)的主流技術(shù),JTAG已很難滿足芯片設(shè)計(jì)對測試與調(diào)試的要求。CJTAG在保持與JTAG兼容的基礎(chǔ)上增加了新功能,提供了一種全新的雙引腳測試與調(diào)試方法。目前對CJTAG的研究尚處于起步階段,所以構(gòu)建相關(guān)的測試系統(tǒng)對今后CJTAG的發(fā)展具有重要的意義。
  本文在深入研究IEEE1149.7標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上,針對芯片的測試問題設(shè)計(jì)了CJTAG測試控制器。該控制

2、器以CJTAG的六個(gè)功能層級為理論依據(jù),給出了一種可擴(kuò)展的設(shè)計(jì)方案。由于T2層級的芯片旁路掃描功能和T5層級的后臺數(shù)據(jù)傳輸功能對解決芯片的調(diào)試問題更具優(yōu)勢,故該控制器主要實(shí)現(xiàn)了TO、Tl、T3和T4層級的主要功能。本文所設(shè)計(jì)的CJTAG測試控制器由五個(gè)子模塊和一個(gè)頂層模塊構(gòu)成:基本測試控制模塊,以TAP.7控制器的狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖為基礎(chǔ)實(shí)現(xiàn)TO層級的串行掃描拓?fù)?;選擇機(jī)制控制模塊,以逃脫和警報(bào)為基礎(chǔ)實(shí)現(xiàn)TO層級的選擇序列;命令控制模塊,以零位

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