微控制器測試技術及應用研究.pdf

1、隨著集成電路的發(fā)展，成品測試正發(fā)揮著越來越重要作用，尤其在航天領域中，需要有高可靠性的電子元器件，對其進行完整測試是保證質量最有效方法。微控制器處于航天產品的核心部位，對其進行有效測試始終是個難題。
　　本課題以航天產品中廣泛應用的AT89C51為例，對微控制器的測試技術進行了研究，依據(jù)AT89C51數(shù)據(jù)手冊中對功能模塊的描述，將測試對象分為兩大部分，一部分為核心處理器電路，采用構造系統(tǒng)圖的方法，建立了三種故障模型，并分別制定了相

2、應測試算法；另一部分是外圍電路，包括存儲器、I/O口、定時器／計數(shù)器和中斷控制器，采用逐一分解的方法，對每一個部件建立故障模型，設計測試算法。在理論研究基礎上，本課題設定一臺測試系統(tǒng)為實現(xiàn)平臺，利用指令集將算法轉化為匯編語言，最終以機器語言的形式落實于測試向量中，從而將上述測試方法加以執(zhí)行，完成了功能測試。
　　借助功能測試的基礎，本課題參照數(shù)據(jù)手冊要求，在做直流參數(shù)測試時，通過運行一段功能測試向量，使其處于待測試狀態(tài)，通過儀表量