版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡介
1、電子探針式測量方法,7.2 微幾何量測量,原理:利用聚焦得非常細(xì)的高能電子束作為電子探針在 樣品上掃描,激發(fā)出各種物理信息。通過對這些 信息的接受、放大和顯示成像,獲得對樣品表面 性貌的觀察。,掃描電子顯微鏡(SEM),掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段,可直接利
2、用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。 掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn):①有較高的放大倍數(shù),20-20萬倍之間連續(xù)可調(diào);②有很大的景深,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu);③試樣制備簡單,結(jié)構(gòu)組成,電子光學(xué)系統(tǒng)掃描系統(tǒng)信號探測放大系統(tǒng)、圖像顯示和記錄系統(tǒng)真空系統(tǒng)供電系統(tǒng),組成:電子槍、電磁透鏡組、物鏡光闌和樣品室等作用:獲得掃描電子束掃描電子束應(yīng)具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑,電子光學(xué)系統(tǒng)
3、,電子槍:提供電子源電磁透鏡:起聚焦電子束(三級縮小形成細(xì)微的探針)的作用 SEM中束斑越小,即成像單元越小,相應(yīng)的分辨率就愈高。樣品室:放置樣品,安置信號探測器,還可帶多種附件。,樣品室,掃描系統(tǒng),作用:使電子束偏轉(zhuǎn),并在樣品表面作有規(guī)則的掃動(dòng)。同時(shí)獲得同步掃描信號。 通過改變?nèi)肷潆娮邮谠嚇颖砻鎾呙璧姆龋色@得所需放大倍數(shù)的掃描像。 掃描線圈一般放在最后二透鏡之間,掃描電子顯微鏡采用雙偏轉(zhuǎn)掃描線圈。,信號探測放大系
4、統(tǒng)和圖像顯示記錄系統(tǒng),作用:探測收集試樣在入射電子束作用下產(chǎn) 生的物理信號,然后經(jīng)視頻放大,作為顯像系統(tǒng)的調(diào)制信號,最后在熒光屏上得到反映樣品表面特征的掃描圖像。 二次電子、背散射電子、透射電子的信號都可采用閃爍計(jì)數(shù)器來進(jìn)行檢測。,真空系統(tǒng),為了保證真在整個(gè)通道中只與試樣發(fā)生相互作用,而不與空氣分子發(fā)生碰撞,因此,整個(gè)電子通道從電子槍至照相底板盒都必須置于真空系統(tǒng)之內(nèi),一般真空度高于10-4Torr 。,電源系統(tǒng)由穩(wěn)壓
5、、穩(wěn)流及相應(yīng)的安全保護(hù)電路所組成,其作用是提供掃描電子顯微鏡各部分所需要的電源。,供電系統(tǒng),S440立體掃描電子顯微鏡,桌上型TM-1000掃描電子顯微鏡,掃描電子顯微鏡用途,最基本的功能是對各種固體樣品表面進(jìn)行高分辨形貌觀察。大景深圖像是掃描電鏡觀察的特色,觀察可以是一個(gè)樣品的表面,也可以是一個(gè)切開的面,或是一個(gè)斷面。冶金學(xué)家已興奮地直接看到原始的或磨損的表面??梢院芊奖愕匮芯垦趸锉砻?,晶體的生長或腐蝕的缺陷。它一方面可更直接
6、地檢查紙,紡織品,自然的或制備過的木頭的細(xì)微結(jié)構(gòu)。,在掃描電鏡應(yīng)用中,很多集中在半導(dǎo)體器件和集成電路方面,它可以很詳細(xì)地檢查器件工作時(shí)局部表面電壓變化的實(shí)際情況,這是因?yàn)檫@種變化會(huì)帶來象的反差的變化。焊接開裂和腐蝕表面的細(xì)節(jié)或相互關(guān)系可以很容易地觀察到。利用束感生電流,可以觀測半導(dǎo)體P—N結(jié)內(nèi)部缺陷。,掃描電子顯微鏡對于固體材料的研究應(yīng)用非常廣泛,沒有任何一種儀器能夠和其相提并論。對于固體材料的全面特征的描述,掃描電子顯微鏡是至關(guān)重要的
7、。,在半導(dǎo)體器件(IC)研究中的特殊應(yīng)用:,1)利用電子束感生電流進(jìn)行成像,可以用來進(jìn)行集成電路中pn結(jié)的定位和損傷研究 2)利用樣品電流成像,結(jié)果可顯示電路中金屬層的開、短路,因此電阻襯度像經(jīng)常用來檢查金屬布線層、多晶連線層、金屬到硅的測試圖形和薄膜電阻的導(dǎo)電形式。,3)利用二次電子電位反差像,反映了樣品表面的電位,從它上面可以看出樣品表面各處電位的高低及分布情況,特別是對于器件的隱開路或隱短路部位的確定尤為方便。4)利用背散射電
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 電子探針分析原理(1)
- 電子探針&齦溝液
- 掃描電鏡與電子探針分析
- 電子探針顯微分析儀
- 電子薄膜的電子探針能譜分析技術(shù)研究.pdf
- 電子探針技術(shù)在巖礦測試上的應(yīng)用
- 電子探針分析法對車輛油漆物證檢驗(yàn)的案例
- 電子探針分析方法及在地質(zhì)中的應(yīng)用實(shí)驗(yàn)教學(xué)大綱
- 電子探針分析方法及在地質(zhì)中的應(yīng)用實(shí)驗(yàn)教學(xué)大綱
- 生物薄試樣電子探針X-射線顯微定量分析標(biāo)樣比較.pdf
- 材料分析方法 第八章 掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析
- 18445.電子探針定年技術(shù)在鈾及含鈾礦物測年中的開發(fā)與研究
- 31575.西天山高壓脈及主巖典型礦物電子探針分析及流體示蹤意義
- 基于Xscale的分布式網(wǎng)絡(luò)測量探針的研究與實(shí)現(xiàn).pdf
- 多探針廣域表面形貌測量方法及探針制備.pdf
- 四探針法測量面電阻2003
- iptv質(zhì)量測量探針的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
- 電子測量論文
- 基于掃描探針電子能譜儀的探針改進(jìn)及實(shí)驗(yàn)研究.pdf
- IPTV性能測量探針的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf
評論
0/150
提交評論