邏輯門電路測試一共2周

1、(一)實驗一、邏輯門電路測試一（共實驗一、邏輯門電路測試一（共2周）周）一、實驗內(nèi)容：一、實驗內(nèi)容：1測量DTL與非門74LS00參數(shù)（1）測量一個與非門2輸入端的Ird（2）測量一個與非門2輸入端的Vs、Vx、VOH、VOL（3）測量一個與非門2輸入端的Rs和Rx（4）測量輸入端分別接高低電平情況下，芯片靜態(tài)空載及有載功耗（5）測量芯片動態(tài)有載功耗，輸入方波頻率定為1kHz、100kHz、1MHz2選擇CD4011，重做內(nèi)容1中的（4

2、）和（5）項3觀測CD4011的輸入輸出傳輸特性（1）用示波器雙通道觀測該芯片的輸入輸出電壓傳輸特性曲線（2）輸入100kHz方波信號，記錄輸入輸出的電壓波形，估算該門電路的平均延遲時間二、思考題二、思考題1、2、3(三)實驗三、單穩(wěn)態(tài)電路與無穩(wěn)態(tài)電路實驗三、單穩(wěn)態(tài)電路與無穩(wěn)態(tài)電路一、實驗內(nèi)容：一、實驗內(nèi)容：1用阻容延遲電路組成單穩(wěn)態(tài)及無穩(wěn)態(tài)電路（1）按圖E32用74LS00組成單穩(wěn)態(tài)電路，觀察并記錄各點信號波形；（選做選做）用雙脈沖信