8位MCU設(shè)計(jì)驗(yàn)證及測試向量故障覆蓋率分析.pdf

1、隨著科學(xué)技術(shù)發(fā)展，嵌入式單片機(jī)正發(fā)揮著越來越重要的作用，廣泛應(yīng)用在生產(chǎn)、生活及科研領(lǐng)域。從實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、過程控制、模糊控制等智能系統(tǒng)到人類的日常生活，都離不開單片機(jī)。因此，嵌入式單片機(jī)設(shè)計(jì)成為科技工作者所關(guān)注的焦點(diǎn)。 美國ATMEL公司生產(chǎn)的89系列單片機(jī)是和8051兼容的新型單片機(jī)。由于內(nèi)部含有Flash存儲器，在產(chǎn)品開發(fā)及生產(chǎn)便攜式商品和手提式儀器等方面得到廣泛應(yīng)用，是目前取代傳統(tǒng)MCS-51系列單片機(jī)的主流單片機(jī)之一。本文

2、對一款能夠兼容89系列單片機(jī)指令集的8位MCU(ssh417)進(jìn)行剖析，針對設(shè)計(jì)項(xiàng)目對其進(jìn)行功能驗(yàn)證和測試向量故障覆蓋率評估。 目前測試技術(shù)主要分兩個(gè)方向：1)集成電路設(shè)計(jì)階段考慮到測試需要而插入一些可測試性結(jié)構(gòu)，即基于DFT的測試；2)傳統(tǒng)測試方法～不基于DFT的測試?？蓽y試性技術(shù)是目前測試技術(shù)的發(fā)展方向。本文研究的8位MCU設(shè)計(jì)項(xiàng)目，由于產(chǎn)品性能和工程項(xiàng)目的要求，若采用可測試性設(shè)計(jì)會(huì)增加設(shè)計(jì)難度、增大芯片面積及增加生產(chǎn)成本。

3、因此本文最終提取工業(yè)用測試向量由系統(tǒng)功能驗(yàn)證的測試激勵(lì)產(chǎn)生，不基于可測性設(shè)計(jì)。 激勵(lì)生成和覆蓋評估是模擬驗(yàn)證中的核心問題，本文對該問題展開研究，目的在于針對MCU設(shè)計(jì)項(xiàng)目，由Verilog結(jié)構(gòu)化門級網(wǎng)表分析其功能測試向量的故障覆蓋率。 首先建立基于Verilog-HDL結(jié)構(gòu)化門級網(wǎng)表仿真環(huán)境，包括結(jié)構(gòu)化門級網(wǎng)表提取、指令集編譯器應(yīng)用、系統(tǒng)外部邏輯模型建模和建立各種激勵(lì)。其次，應(yīng)用Cadence公司的Verilog-XL仿