基于功能覆蓋率收劍技術(shù)的驗證方法研究與應(yīng)用.pdf

1、功能驗證是設(shè)計流程中的重要任務(wù)之一,其目的是驗證設(shè)計能否按照設(shè)計規(guī)范完成相應(yīng)的功能。但是因為驗證能力遠(yuǎn)遠(yuǎn)落后于設(shè)計能力,功能驗證面臨巨大挑戰(zhàn)。目前,業(yè)界普遍采用覆蓋率導(dǎo)向的驗證方法,如何加快覆蓋率提升速度成為一個研究熱點(diǎn)。本文研究和應(yīng)用功能覆蓋率收斂技術(shù)(Coverage Convergence Technology,CCT),該技術(shù)基于空洞分析算法和閉環(huán)反饋思路,通過收集覆蓋率信息控制隨機(jī)變量生成以達(dá)到加速覆蓋率收斂的效果。
　

2、　 本文首先闡述了CCT的原理、實(shí)現(xiàn)方法、可用流程和驗證平臺編碼規(guī)范。通過對三種驗證向量生成方式進(jìn)行分析總結(jié),指出CCT技術(shù)的優(yōu)勢。然后,采用SystemVerilog語言,設(shè)計總線功能模型,分別采用CCT方法和傳統(tǒng)受限約束隨機(jī)生成激勵的Simon方法,對總線功能模型進(jìn)行功能驗證。最后,從功能覆蓋率收斂狀況和仿真用時兩個方面,分析驗證結(jié)果,探討CCT對于提升驗證效率的作用,量化CCT的覆蓋率收斂效果。
　　 本文以自主研發(fā)So

3、C芯片中DDR控制器的驗證需求為背景,應(yīng)用CCT技術(shù)完成DDR控制器的完備驗證工作。根據(jù)控制器特性制定驗證計劃,設(shè)計驗證方案,基于VMM驗證方法學(xué)和Synopsys公司提供的DesignWare VIP庫搭建層次化的驗證平臺,同時采用SystemVerilog語言開發(fā)驗證組件,包括場景產(chǎn)生器、數(shù)據(jù)比較器、功能覆蓋率模型、寄存器抽象層模型。實(shí)驗結(jié)果表明,CCT技術(shù)結(jié)合VMM的驗證方法,能夠大量減少冗余隨機(jī)驗證向量的生成,快速實(shí)現(xiàn)覆蓋率收斂