RTL級基于覆蓋率驅(qū)動EMI的驗證.pdf

1、隨著嵌入式系統(tǒng)的高速發(fā)展，嵌入式SoC芯片應(yīng)用范圍越來越廣泛，而SoC芯片大多包含有外部存儲器接口模塊(EMI，ExternalMemoryInterface)，本文討論的基于ARM7TDMI的“Garfield”系統(tǒng)芯片中的EMl支持多種不同類型的存儲器，包括SRAM、ROM：、Nor Flash、SDRAM及NandFlash，對其進(jìn)行充分的功能驗證，保證EMI一次性流片成功尤為重要。目前多數(shù)的IC設(shè)計項目中，功能驗證一直以米都是設(shè)

2、計中最難克服利最具有挑戰(zhàn)性的課題之一。功能驗證的難點主要體現(xiàn)在以下兒個方面：測試向量的快速生成，驗證平臺的可重川性，驗證質(zhì)量的評估利同歸測試。 本文的研究內(nèi)容是Garfield系統(tǒng)芯片設(shè)計的一部分，著重討論了一款SoC芯片Garfield中EMI的功能及其功能驗證，本論文的主要工作是對Garfield中EMI的RTL級功能驗證平臺的設(shè)計實現(xiàn)。 為了保證EMI的總體設(shè)計和驗證要求，在對EMI驗證過科中吸納和綜合使用了兩種技

3、術(shù)：一是可重用的驗證環(huán)境開發(fā)技術(shù)，它幫助驗證工程師根據(jù)驗證計劃中的功能點產(chǎn)生約束，自動生成測試矢量，提高驗證工作效率；二是基丁覆蓋率驅(qū)動的驗證技術(shù)，它的作用是完善功能驗證工作的驗證計劃，幫助驗證工程師發(fā)現(xiàn)待驗證模塊中的設(shè)計錯誤，通過多次同歸測試，不斷的基丁覆蓋率驅(qū)動加強約束開發(fā)確定性的測試場景，最后達(dá)到了指定的覆蓋率。 本文主要的研究工作如下： 1．基丁Garfield體系結(jié)構(gòu)，討論EMI在Garfield系統(tǒng)芯片中的地

4、位，作用，以及該設(shè)計的結(jié)構(gòu)，全面掌握EMI的設(shè)計原理和實現(xiàn)方案，及其功能性能特點，并根據(jù)EMI的功能規(guī)格定義制定了詳細(xì)驗證計劃。 2．確定以Specman為驗證平臺，并以Specman平臺支持的驗證語言——E語言，設(shè)計實現(xiàn)了EMIRTL，級基_丁覆蓋率驅(qū)動的驗證環(huán)境，該環(huán)境具有高度的可擴展性和可重用性，并已成功應(yīng)用丁Garfield中EMI的各功能的驗證，最后并對EMI驗證結(jié)果進(jìn)行分析和評估。 3．在基于ARM的ADS調(diào)