針對混合信號測試的高效ATE測試解決方法的研究與實現(xiàn).pdf

1、隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷發(fā)展和國內(nèi)消費電子市場的不斷成熟,混合信號類器件市場競爭越來越激烈,控制器件的生產(chǎn)成本成為了取勝重要因素。而測試成本往往占據(jù)了器件生產(chǎn)成本的很大比例。高效的ATE測試方案可以縮短測試時間,降低測試成本,提高測試質(zhì)量,真實反映器件測試結(jié)果。為控制器件生產(chǎn)成本提供顯著貢獻。混合信號類器件測試一般有測試時間長,并行效率低,模擬信號易受干擾,測試不穩(wěn)等問題。本論文在對傳統(tǒng)混合信號類器件測試方案的分析基礎(chǔ)上,提出了新的測試方案

2、,并將其應(yīng)用于一款混合信號器件的測試中。新的測試方案充分結(jié)合了J750自動測試設(shè)備的特點,通過以下兩個方面改進傳統(tǒng)測試方案。
　　一、測試程序優(yōu)化:利用VBT將多項測試同步測試,更新了傳統(tǒng)的PLL和數(shù)模轉(zhuǎn)換器測試方式,減少了測試時間,提高了測試穩(wěn)定性;
　　二、硬件測試板設(shè)計:通過機械手等外圍硬件配合,突破傳統(tǒng)多點測試的設(shè)計,測試產(chǎn)能實現(xiàn)倍增。
　　本論文從測試時間和成本上證明了新的測試方案可以有效改變混合信號類器件測