無關(guān)位在被測電路自己施加測試矢量方法中的研究與應(yīng)用.pdf

1、近年來，集成電路技術(shù)日新月異。人們要求電路既要有強大的功能，又要有較高的可靠性。由于電路密度快速增加，而外部管腳數(shù)目因受幾何尺寸限制增加緩慢，在芯片外部很難對其進行控制和觀測。于是，人們引入了可測試性設(shè)計方法來解決這個問題。內(nèi)建自測試是一個被廣泛使用的可測試性設(shè)計方法。 最近，一種由被測電路自己施加測試矢量的內(nèi)建自測試方法被提出。該方法使用Mintest確定性測試集，對被測電路施加第一個測試矢量以后，將被測電路中一些內(nèi)部節(jié)點的響

2、應(yīng)值用捕獲寄存器捕獲，把這些響應(yīng)值反饋到被測電路的輸入端作為下一個測試矢量。 本文對Mintest測試集中的無關(guān)位進行了研究，提出了一種無關(guān)位賦值方法用來提高被測電路自己施加測試矢量方法的故障效率。參照電路內(nèi)部節(jié)點的響應(yīng)，對下一個要輸入的測試矢量中的無關(guān)位進行合理賦值，可以延緩備選反饋節(jié)點數(shù)目的減少速度。這樣每一組反饋生成的屬于Mintest測試集的矢量個數(shù)就會更多。 在此基礎(chǔ)上，本文提出了一種基于被測電路自己施加測試矢

3、量方法一般反饋方式動態(tài)變換無關(guān)位的方法。大部分電路的一般反饋方式需要進行多組反饋才能達到期望的故障效率。每組反饋都能生成Mintest測試集中的部分矢量和一些額外的測試矢量，由于這些額外測試矢量可以檢測到一些新故障，剩余的確定性測試矢量需要檢測的故障數(shù)就少了。故障集減小，就可以在Mintest測試集剩余測試矢量中變換出更多的無關(guān)位。利用前一組反饋測試在剩余測試矢量中變換出更多的無關(guān)位，可以提高一般反饋測試最終的故障效率。 使用含