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1、隨著閃存的設(shè)計(jì)制造測(cè)試在中國(guó)的越來(lái)越普及,大規(guī)模制造廠在中國(guó)如雨后春筍般的涌出,在實(shí)際生產(chǎn)中的測(cè)試時(shí)間和成品率問(wèn)題對(duì)成本的控制來(lái)說(shuō)就尤為重要.在這里闡述了一個(gè)以Intel閃存產(chǎn)品為例,大幅度降低測(cè)試時(shí)間,擴(kuò)大產(chǎn)能的方法.
本文共分八章.第一章緒論中,介紹了選題的目的意義;第二章,介紹Intel閃存產(chǎn)品版圖,物理結(jié)構(gòu),功能特性.以對(duì)產(chǎn)品有一大概認(rèn)識(shí).第三章,從Sort Class的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試流程入手,對(duì)以往測(cè)試流程及其所能檢測(cè)
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