散斑干涉法在工業(yè)質(zhì)檢中的應(yīng)用.pdf

1、電子散斑干涉測(cè)量技術(shù)(Electronic speckle pattern interferometry，簡稱ESPI)作為一種高精度的光學(xué)測(cè)量技術(shù)被廣泛應(yīng)用于無損檢測(cè)和微變形檢測(cè)中，具有測(cè)量精度高、非接觸測(cè)量、測(cè)量速度快等特點(diǎn)。
　　 散斑條紋圖像中的相位信息與物體變形有關(guān)，常用的相位提取方法有條紋中心線法和相移法，由于電子散斑圖像中的噪聲含量較多，條紋對(duì)比度低，這為準(zhǔn)確提取出圖像中與物體變形量相關(guān)的相位信息帶來較大的難度，利

2、用條紋中心線法很難得到精確的相位信息，故本文在散斑干涉測(cè)量系統(tǒng)中引入相移裝置，利用相移法提取散斑干涉圖像中包含的相位信息。本文對(duì)相移方法的選擇、相位圖的生成方式、包裹相位圖的濾波方法以及去包裹算法等關(guān)鍵圖像處理技術(shù)進(jìn)行探討和研究。
　　 為提高測(cè)量精度，本文從系統(tǒng)的硬件組成出發(fā)，選擇適當(dāng)?shù)墓鈱W(xué)器件及合理的機(jī)械結(jié)構(gòu)搭建電子錯(cuò)位散斑干涉測(cè)量系統(tǒng)。系統(tǒng)中錯(cuò)位量對(duì)條紋對(duì)比度、測(cè)量靈敏度和測(cè)量精度均有較大影響，故本文對(duì)錯(cuò)位量做了大量的研究

3、，并給出其科學(xué)選取范圍。利用搭建好的錯(cuò)位-相移散斑干涉測(cè)量系統(tǒng)對(duì)輪胎氣泡缺陷進(jìn)行無損檢測(cè)，對(duì)鋼板的微小變形量做定量測(cè)量。
　　 本文主要包括如下內(nèi)容：
　　 [1]推導(dǎo)錯(cuò)位散斑干涉測(cè)量系統(tǒng)中離面位移導(dǎo)數(shù)與干涉條紋圖像中相位的關(guān)系式，計(jì)算系統(tǒng)各部分參數(shù)，選取恰當(dāng)器件搭建干涉測(cè)量系統(tǒng)。
　　 [2]利用MATLAB對(duì)不同錯(cuò)位量下的錯(cuò)位干涉條紋圖進(jìn)行模擬，結(jié)合錯(cuò)位量對(duì)系統(tǒng)條紋對(duì)比度、測(cè)量靈敏度和測(cè)量精度的理論模型展開分