電子散斑干涉檢測(cè)技術(shù)的研究.pdf

1、電子散斑干涉技術(shù)簡(jiǎn)稱ESPI（Electronic Speckle Pattern Interferometry），是以激光技術(shù)、視頻技術(shù)、計(jì)算機(jī)圖象處理技術(shù)、全息干涉和散斑干涉技術(shù)等相結(jié)合的一種現(xiàn)代光學(xué)測(cè)量技術(shù)，被廣泛應(yīng)用于無(wú)損檢測(cè)（NDT），光學(xué)粗糙表面位移，變形測(cè)量，振動(dòng)分析等領(lǐng)域。 本文闡述了散斑干涉計(jì)量技術(shù)的發(fā)展概況及ESPI在無(wú)損檢測(cè)方面的應(yīng)用，分析了散斑成因和散斑測(cè)量的基本理論，并重點(diǎn)介紹了本文中所運(yùn)用的參考光束型

2、ESPI檢測(cè)系統(tǒng)組成。 針對(duì)散斑干涉條紋圖充滿大量噪聲的特性，本文研究了基于去噪算法的ESPI條紋骨架提取，干涉條紋經(jīng)過(guò)濾波去噪、二值化、細(xì)化、擬合等處理以后，可得到滿意的條紋骨架線。并采用搭建的ESPI系統(tǒng)對(duì)試件離面位移進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)測(cè)量，經(jīng)過(guò)圖像、數(shù)據(jù)處理后可實(shí)現(xiàn)試件位移的三維重構(gòu)。 在工業(yè)環(huán)境測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)，會(huì)有很多引起ESPI不穩(wěn)定的干擾，雙脈沖ESPI用減少曝光時(shí)間和間隔來(lái)提高穩(wěn)定性，但由于條紋圖的生成方式是相加模式，條