版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡介
1、作為提高光電系統(tǒng)可靠性的關(guān)鍵技術(shù)之一,機(jī)內(nèi)自測(cè)試(Built-in Test,后面均簡稱BIT)技術(shù)已經(jīng)成為該領(lǐng)域的重要研究方向。本文以提高光電綜合系統(tǒng)的應(yīng)用性能為目的,對(duì)紅外視頻采集系統(tǒng)的BIT技術(shù)進(jìn)行了系統(tǒng)研究,實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)中各器件間的通信檢測(cè)以及PC端的狀態(tài)顯示、控制自檢等功能。
第一,本文開篇簡要介紹了課題的核心概念——BIT檢測(cè)技術(shù)的背景與研究意義。
第二,針對(duì)這一視頻采集系統(tǒng),本文對(duì)采用FPGA對(duì)整
2、體系統(tǒng)進(jìn)行檢測(cè)和控制的優(yōu)勢(shì)進(jìn)行了研究,并對(duì)軟件設(shè)計(jì)所需用到的三種開發(fā)環(huán)境與各類資源進(jìn)行了說明。
第三,文中對(duì)BIT技術(shù)的實(shí)際應(yīng)用和技術(shù)難點(diǎn),主要是虛警問題,進(jìn)行了深入分析和研究,建立起基于FPGA的整體軟件設(shè)計(jì)流程和結(jié)構(gòu)功能框架,將BIT分為通電自檢和周期自檢兩部分,并分別針對(duì)FPGA、STM32和DM642的性能特點(diǎn)來完成BIT程序在各模塊間的實(shí)現(xiàn)方法。
第四,本文介紹了如何利用Visual C++Buil
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)研究.pdf
- 系統(tǒng)芯片外建自測(cè)試技術(shù)研究.pdf
- 計(jì)算機(jī)測(cè)控系統(tǒng)自測(cè)試技術(shù)的研究.pdf
- NoC系統(tǒng)的內(nèi)建自測(cè)試(BIST)技術(shù)研究.pdf
- 電子系統(tǒng)內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)研究.pdf
- 系統(tǒng)芯片(SOC)測(cè)試結(jié)構(gòu)與內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)研究.pdf
- 自測(cè)試題
- SoC中內(nèi)建自測(cè)試設(shè)計(jì)技術(shù)研究.pdf
- 低功耗內(nèi)建自測(cè)試(BIST)設(shè)計(jì)技術(shù)的研究.pdf
- 內(nèi)建自測(cè)試的重復(fù)播種測(cè)試生成研究.pdf
- 集成電路低功耗內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)的研究.pdf
- 可重構(gòu)陣列自測(cè)試與容錯(cuò)技術(shù)研究.pdf
- 內(nèi)建自測(cè)試march算法的優(yōu)化研究.pdf
- 鎖相環(huán)內(nèi)建自測(cè)試研究.pdf
- SoC存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)研究.pdf
- 無線內(nèi)裝自測(cè)試設(shè)備關(guān)鍵技術(shù)研究.pdf
- 確定性邏輯內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)研究.pdf
- 基于March C+算法的存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試自測(cè)試設(shè)計(jì)與仿真.pdf
- 基于邊界掃描的內(nèi)建自測(cè)試技術(shù)及其應(yīng)用.pdf
- 基于軟件內(nèi)建自測(cè)試的測(cè)試用例研究.pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論