基于等確定位切分的SoC內建自測試方法研究.pdf

1、隨著超大規(guī)模集成電路集成度的增加及其制造工藝的飛速發(fā)展，單個芯片上集成的晶體管數(shù)目越來越多，原有的垂直型芯片設計模式已向水平型設計模式轉變，通過復用IP芯核，片上系統(tǒng)(SoC，System-on-Chip)的功能愈發(fā)強大。SoC設計縮短了電路設計周期、降低了設計風險，但同時也帶來了測試數(shù)據(jù)量的快速增加和測試應用時間的快速增長，使得SoC測試面臨著巨大的挑戰(zhàn)，而內建自測試(BIST，Built-In Self-Test)方法很好地解決了這

2、一難題。
　　 與傳統(tǒng)的外部測試方法相比，內建自測試方法將全部測試資源都移到了芯片上，通過在電路內部建立測試向量生成、測試向量施加、測試響應分析和測試控制結構，使電路進行自身測試，徹底擺脫了對昂貴的自動測試設備(ATE，Automatic Test Equipment)的依賴，從而可以大大降低測試成本。鑒于線性反饋移位寄存器(LFSR，Linear Feedback Shift Registers)重播種方法是工業(yè)界廣泛使用的一

3、種BIST方案，本文重點研究基于LFSR重播種的測試數(shù)據(jù)壓縮方法。
　　 本文在分析比較了國內外幾個典型的LFSR重播種方法和研究了ISCAS-89部分標準電路的硬故障集的基礎上，結合LFSR重播種方法中生成種子的長度受到測試集中測試向量確定位最大數(shù)目Smax制約的特點，提出了一種基于等確定位切分的LFSR重播種方法。該方案先將所有測試向量通過某種排序策略將其串成一條數(shù)據(jù)流，按照確定位個數(shù)相等的策略對該數(shù)據(jù)流進行切分，使得到的新