芯片S參數(shù)的提取.pdf

1、S參數(shù)是在微波頻段用來描述有源和無源器件特性的非常有效的參數(shù)，它將與場相關(guān)的器件特性轉(zhuǎn)換為網(wǎng)絡(luò)的方式進行描述，能夠讓微波器件設(shè)計者很容易的計算出各種微波系統(tǒng)或微波電路的增益、回波損耗、穩(wěn)定性、隔離度、網(wǎng)絡(luò)的匹配以及其他重要的參數(shù)，極大地簡化了設(shè)計的工作量。對于微波放大器設(shè)計而言，準(zhǔn)確的晶體管S參數(shù)是成功設(shè)計的必要條件。一般情況下，采用晶體管芯設(shè)計放大器在發(fā)揮晶體管性能、減小體積、以及改善散熱性能等方面具有顯著的優(yōu)勢。但由于管芯參數(shù)的離散

2、性和封裝工藝的差異性，由生產(chǎn)商提供的管芯S參數(shù)難以有效地用于高性能微波部件的設(shè)計，因此微波管芯S參數(shù)的準(zhǔn)確提取在微波技術(shù)領(lǐng)域具有重要的實際意義。
　　微波晶體管芯S參數(shù)提取主要涉及測量系統(tǒng)校準(zhǔn)，使獲取的S參數(shù)誤差達到所需要的精度。S參數(shù)的提取以矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀為主要儀器，網(wǎng)絡(luò)分析儀是由許多有源和無源元器件組成的，它們不可能是理想的，任何實際的網(wǎng)絡(luò)分析儀都存在多種系統(tǒng)誤差源，因此需要在使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀前對其進行校準(zhǔn)以消除系統(tǒng)誤差。標(biāo)

3、準(zhǔn)的系統(tǒng)誤差校準(zhǔn)采用TOSM（Through-Open-Short-Match），它的校準(zhǔn)件是隨網(wǎng)絡(luò)分析儀一并購買的。采用的是同軸接口，能夠滿足大部分的測量。但在實際測量中，被測件的接頭方式有多種多樣，而且很多測試要在夾具上測量，其校準(zhǔn)件的物理尺寸要根據(jù)夾具的尺寸來制作。本文在詳細分析矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的結(jié)構(gòu)、工作原理、信號流向、測量方法等的基礎(chǔ)上，通過深入研究TOSM所采用的十二項誤差校準(zhǔn)方法，以及一種誤差項更少，測試步驟簡單，精度高的T