LED晶粒自動(dòng)點(diǎn)測(cè)臺(tái)系統(tǒng)研究.pdf_第1頁(yè)
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1、LED晶粒的點(diǎn)測(cè)是LED生產(chǎn)中的一個(gè)重要環(huán)節(jié),由于點(diǎn)測(cè)設(shè)備長(zhǎng)久以來(lái)一直被外國(guó)和臺(tái)灣壟斷,研發(fā)具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的LED晶粒點(diǎn)測(cè)設(shè)備是事在必行的。在LED晶粒大批量工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中,由于高度集成化,在點(diǎn)測(cè)環(huán)節(jié)要在有限的薄膜襯底上放置大量的LED晶粒。我們需要對(duì)薄膜襯底上的LED晶粒進(jìn)行相應(yīng)的篩選和檢測(cè),將完整的LED晶粒檢測(cè)出,并識(shí)別它的不同級(jí)別,將不同級(jí)別的晶粒分別揀出。
   本課題研究的是LED晶粒自動(dòng)點(diǎn)測(cè)臺(tái)系統(tǒng),首先構(gòu)建出LE

2、D晶粒自動(dòng)點(diǎn)測(cè)臺(tái)系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu),并闡述了系統(tǒng)的測(cè)試原理和設(shè)計(jì)方案。其次對(duì)系統(tǒng)的運(yùn)動(dòng)控制部分進(jìn)行設(shè)計(jì),運(yùn)用運(yùn)動(dòng)控制技術(shù),并利用PCI-8134運(yùn)動(dòng)控制卡控制電機(jī),從而實(shí)現(xiàn)電機(jī)四個(gè)方向上的運(yùn)動(dòng)。然后對(duì)系統(tǒng)的視覺(jué)部分進(jìn)行設(shè)計(jì),運(yùn)用圖像處理中的模板匹配算法,使用Sapera,Processing圖像處理軟件來(lái)識(shí)別LED晶粒,從而實(shí)現(xiàn)LED晶粒的識(shí)別與定位。最后對(duì)系統(tǒng)的軟件部分進(jìn)行設(shè)計(jì),使用VC++6.0作為軟件開(kāi)發(fā)平臺(tái),結(jié)合圖像處理技術(shù)和運(yùn)動(dòng)控

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