基于Teradyne J750測試平臺的射頻芯片低成本測試方案開發(fā)及實現(xiàn).pdf

1、隨著芯片功能不斷的復雜化、多樣化，對于應用于量產(chǎn)測試中的測試機臺的性能要求越來越高，而測試成本也已成為芯片成本中不可忽略的因素。常見的降低測試成本的途徑有：減少測試時間，優(yōu)化測試流程，采用并行測試技術(shù)、選擇低端機臺實現(xiàn)測試方案等。除此之外，還可以采用DFT的手段來降低對測試機臺的要求，從而實現(xiàn)降低測試機臺成本的目的。
　　針對測試低成本化的發(fā)展需求，本論文旨在探討利用PXI具有高精度的射頻測試能力的特點結(jié)合較低端測試平臺穩(wěn)定適用大

2、生產(chǎn)測試的優(yōu)勢，開發(fā)并實現(xiàn)一種集中兩者優(yōu)勢的低成本射頻測試方案，即在低端機臺上結(jié)合PXI高精度測試儀表實現(xiàn)測試方案開發(fā)?；赑XI的自動測試系統(tǒng)具有很好的性能價格比，易于擴展，此種測試方案具有投資小、開發(fā)周期短、測試精度高等優(yōu)點，是低成本測試方案的理想選擇。
　　本論文論證了PXI與ATE結(jié)合的可能性，設(shè)計并實現(xiàn)了基于TeradyneJ750測試平臺，結(jié)合PXI儀表N15651和Aeroflex3035，使用IG-XL測試軟件開發(fā)

3、測試程序，共同完成射頻信號類芯片測試方案的開發(fā)。此次設(shè)計包括外掛儀表選型和測試程序開發(fā)兩方面，并在此基礎(chǔ)上，應用于量產(chǎn)測試，有效地實現(xiàn)了降低測試成本的目的。
　　本文對于測試項相對簡單但輸入頻率較高的射頻芯片提供了一種切實可行、經(jīng)濟有效、具有生產(chǎn)價值的基于自動測試機臺的解決方案，同時，也為在芯片出貨壓力大，生產(chǎn)機時有限的情況下，均衡機臺測試產(chǎn)量，緩解生產(chǎn)壓力提供了一個有效可行的解決方案。
　　這是業(yè)界第一次將PXI外掛儀表測