基于RFID芯片的高同測數(shù)測試方案的研究與實(shí)現(xiàn).pdf

1、RFID(Radio Frequency Identification)，由于其非接觸性、便利性的特點(diǎn)，已經(jīng)廣泛應(yīng)用于第二代個(gè)人身份證卡、公共交通卡、公司門禁卡等領(lǐng)域。目前，應(yīng)用最廣泛的RFID芯片基于ISO14443協(xié)議標(biāo)準(zhǔn)。該協(xié)議采用13.56MHz的載波頻率，通過天線端子接收/發(fā)射射頻信號，實(shí)現(xiàn)RFID芯片和讀卡器之間的信息交互。由于RFID芯片需求量越來越大、成本控制越來越嚴(yán)格，在進(jìn)行RFID芯片量產(chǎn)測試時(shí)，往往要求能夠?qū)崿F(xiàn)產(chǎn)能

2、最大化與測試成本最小化。為了達(dá)到這一目標(biāo)，通常采用提高測試時(shí)的同測數(shù)量來實(shí)現(xiàn)。
　　論文研究了面向于ISO14443 RFID芯片，實(shí)現(xiàn)高同測量產(chǎn)測試的可行性。在ADVANTEST公司的T2000 LSMF ATE測試設(shè)備上，實(shí)現(xiàn)了RFID芯片的64DUT(Device Under Testing)同時(shí)測試的量產(chǎn)方案。包括硬件設(shè)計(jì)和測試程序設(shè)計(jì)以及解決64 DUT同測的量產(chǎn)測試穩(wěn)定性問題。
　　在硬件方面，設(shè)計(jì)并開發(fā)了專用的

3、64 DUT同測的晶圓測試板。同時(shí)，為了產(chǎn)生RFID芯片所需要的26Vpp ASK調(diào)制波形以及接受RFID芯片反饋的OOK高振幅信號，在測試基板上自主設(shè)計(jì)開發(fā)了RFID專用測試模塊。該模塊包含了放大和衰減兩套回路。放大回路配合T2000 LSMF測試機(jī)臺(tái)的任意波形發(fā)生器產(chǎn)生所需要的ASK調(diào)制波形;衰減回路減小RFID芯片反饋的OOK信號以適應(yīng)測試機(jī)臺(tái)的比較器的測量范圍。在軟件方面，編寫了測試程序，并且針對ISO14443ARFID芯片專

4、門開發(fā)了測試算法庫。
　　量產(chǎn)測試需要高穩(wěn)定性，對于RFID芯片的高同測量產(chǎn)測試需要解決3個(gè)重要問題:RF-IF協(xié)議測試時(shí)的輸出數(shù)據(jù)的不同步、RF-IF協(xié)議測試時(shí)的芯片間串?dāng)_及RF-IF間的微小電容測試精度無法保證等。本文對這3個(gè)問題進(jìn)行了深入地分析研究并成功地加以解決:針對于RFID芯片的輸出數(shù)據(jù)不同步，采用了內(nèi)存存放加算法處理的方式進(jìn)行解決;對于芯片間的串?dāng)_問題，通過在探針卡上使用同軸針以及測試算法優(yōu)化，很好地實(shí)現(xiàn)了良率的提高