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1、隨著數(shù)字通訊技術(shù)的不斷發(fā)展,模數(shù)轉(zhuǎn)換器作為連接模擬信號(hào)與數(shù)字信號(hào)之間的紐帶,在集成電路產(chǎn)業(yè)中得到廣泛應(yīng)用。在眾多結(jié)構(gòu)的ADC中,SAR ADC是采樣率低于5MSPS的中高等分辨率的ADC首選結(jié)構(gòu)。在SAR ADC的設(shè)計(jì)中,一個(gè)高精度高性能的參考電壓源的實(shí)現(xiàn)影響著其中數(shù)模轉(zhuǎn)換器的性能,從而影響著整個(gè)ADC的精度。
本文針對(duì)SAR ADC的性能要求,在詳細(xì)分析CMOS帶隙基準(zhǔn)源的原理及非理想因素的前提下,設(shè)計(jì)了一種高性能的帶隙基準(zhǔn)
2、電壓源。整體電路采用了改進(jìn)的帶隙基準(zhǔn)源架構(gòu),在核心電路的設(shè)計(jì)中,使用共源共柵電流鏡提高了帶隙基準(zhǔn)源的電源抑制比,并通過(guò)改變電流放大倍數(shù)降低了運(yùn)放失調(diào)對(duì)輸出參考電壓的影響。同時(shí),文中設(shè)計(jì)了一種基于數(shù)字電路實(shí)現(xiàn)的啟動(dòng)電路,確保了輸出電壓可以在較短時(shí)間內(nèi)穩(wěn)定到其靜態(tài)工作點(diǎn)。最后,本文根據(jù)數(shù)模轉(zhuǎn)換器中參考電壓的要求,給出了可配置電路的設(shè)計(jì)方案,為 SAR ADC提供了一個(gè)穩(wěn)定的輸出參考電壓,并提高了帶隙基準(zhǔn)源的驅(qū)動(dòng)能力。
本文在2.5
3、V的電源電壓下,基于SMIC65nm CMOS工藝對(duì)帶隙基準(zhǔn)源進(jìn)行設(shè)計(jì),采用Cadence公司的Spectre軟件對(duì)電路進(jìn)行仿真,結(jié)果表明,輸出參考電壓在-40~125℃的溫度范圍內(nèi)的溫度系數(shù)為6 ppm/℃,在低頻時(shí)的電源抑制比為64.2dB,建立時(shí)間為234ns,靜態(tài)功耗為0.28mW,在電源電壓波動(dòng)?10%時(shí),輸出參考電平僅變化0.41mV。基準(zhǔn)電壓經(jīng)過(guò)可配置電路后供給數(shù)模轉(zhuǎn)換器,本文所設(shè)計(jì)的帶隙基準(zhǔn)源的性能指標(biāo)完全可以滿足SAR
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