易氧化食品貨架壽命預(yù)測系統(tǒng)的研究與開發(fā).pdf

1、易氧化食品貨架壽命預(yù)測系統(tǒng)的研究與開發(fā)是通過建立各影響因素的數(shù)據(jù)庫來實現(xiàn)對真實儲存環(huán)境條件的模擬，能夠快速、準(zhǔn)確地預(yù)測產(chǎn)品貨架壽命，克服了普通試驗法和加速試驗法效率低、成本高以及不能適應(yīng)自動化生產(chǎn)等弊端。
　　基于該領(lǐng)域當(dāng)前的理論成果，本文主要做了如下研究:
　　(1)對影響易氧化食品貨架壽命的內(nèi)外部因素進(jìn)行分析，并建立易氧化食品貨架壽命影響因素模型，為計算機(jī)預(yù)測易氧化食品貨架壽命提供理論基礎(chǔ)。
　　(2)根據(jù)菲克—亨

2、利定律推導(dǎo)出在恒溫下任意時間包裝內(nèi)的氧氣含量計算公式以及易氧化食品在僅受包裝內(nèi)氧氣含量因素影響時的貨架壽命計算公式。確定易氧化食品的氧化過程屬于一級動力學(xué)方程，應(yīng)用Arrhenius方程推導(dǎo)出易氧化食品在僅受溫度因素影響下的貨架壽命計算公式以及其在任意時間的過氧化值計算公式，并通過加速試驗法對公式進(jìn)行可行性驗證。
　　(3)基于受包裝內(nèi)氧氣含量和溫度兩種不同因素影響的易氧化食品貨架壽命計算公式，運用VisualC＃2010平臺開發(fā)

3、了易氧化食品貨架壽命預(yù)測系統(tǒng)。通過該系統(tǒng)能夠?qū)σ籽趸称返呢浖軌勖M(jìn)行預(yù)測，分別計算出受包裝內(nèi)氧氣含量和溫度兩種不同因素影響的易氧化食品貨架壽命，繪制出受溫度因素影響下儲存期內(nèi)的易氧化食品的過氧化值變化曲線，并探討易氧化食品在升溫與降溫后的過氧化值變化曲線與溫度之間所存在的關(guān)系，最后計算易氧化食品的包裝成本。
　　通過運行系統(tǒng)證明，該系統(tǒng)能較好地預(yù)測受溫度和包裝內(nèi)氧氣含量兩種不同因素影響的易氧化食品貨架壽命。通過對易氧化食品貨架壽