機(jī)載相控陣?yán)走_(dá)KA-STAP技術(shù)研究.pdf

1、空時(shí)自適應(yīng)處理(STAP)是機(jī)載相控陣?yán)走_(dá)進(jìn)行動(dòng)目標(biāo)檢測(cè)的關(guān)鍵技術(shù)。在非均勻雜波環(huán)境下,缺乏足夠多的獨(dú)立同分布(IID)訓(xùn)練樣本估計(jì)雜波的統(tǒng)計(jì)特性,導(dǎo)致自適應(yīng)性能?chē)?yán)重下降,這是STAP處理所面臨的最大問(wèn)題。因此,發(fā)展能夠適應(yīng)非均勻環(huán)境的新型STAP算法已經(jīng)成為STAP技術(shù)的研究方向之一。將檢測(cè)環(huán)境的先驗(yàn)知識(shí)合理地運(yùn)用在雷達(dá)信號(hào)處理中,實(shí)現(xiàn)知識(shí)輔助的空時(shí)自適應(yīng)處理(KA-STAP)目前成為解決雜波非均勻問(wèn)題和改善STAP性能的研究熱點(diǎn)。此

2、外,運(yùn)算量巨大是STAP面臨的另一問(wèn)題。為此,本論文的研究將圍繞KA-STAP技術(shù)及其數(shù)值域求解算法展開(kāi),主要包括以下幾個(gè)方面:
　　1.研究了探測(cè)環(huán)境的先驗(yàn)雜波協(xié)方差估計(jì)問(wèn)題。利用真實(shí)場(chǎng)景的地形地貌、數(shù)字高程模型(DEM)數(shù)據(jù)、雷達(dá)系統(tǒng)參數(shù)、載機(jī)平臺(tái)運(yùn)動(dòng)參數(shù)等先驗(yàn)信息,準(zhǔn)確估計(jì)待檢測(cè)單元的先驗(yàn)雜波模型。
　　2.提出了一種知識(shí)輔助的自適應(yīng)功率剩余(KA-APR)非均勻樣本檢測(cè)算法。該算法間接利用雜波先驗(yàn)知識(shí)對(duì)STAP訓(xùn)練樣

3、本進(jìn)行非均勻檢測(cè),比常規(guī)檢測(cè)方法具有更好的檢測(cè)性能。根據(jù)提出的KA-APR檢測(cè)算法判斷待測(cè)采樣數(shù)據(jù)的類型(均勻或非均勻),研究了不同類型檢測(cè)樣本的自適應(yīng)算法智能選擇問(wèn)題。
　　3.研究了KA-STAP色加載技術(shù)及其數(shù)值域求解算法。色加載算法利用雜波先驗(yàn)知識(shí)對(duì)采樣雜波進(jìn)行預(yù)白化濾波,降低雜波子空間的維數(shù),減少后續(xù) STAP對(duì)IID樣本數(shù)的需求。詳細(xì)推導(dǎo)了一種有效的最優(yōu)加載因子求解算法,使得色加載方法達(dá)到最優(yōu)性能。深入研究了基于QR分