毫秒激光輻照硅光電探測(cè)器的損傷研究.pdf_第1頁(yè)
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1、THERESEARCHONDAMAGEOFSILICONPHOTOELECTRICDETECTORIRRADIATEDByMILLISECONDLASER學(xué)位授予單位搜代碼：照查堡王盔堂f!Q!豎!學(xué)科專業(yè)名稱及代碼：趟堂!QZQZQl2研究方向：堂趟塑堡生塹型邀盤叢申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別：亟指導(dǎo)教師：籃矗塑研究生：旦!噬論文起止時(shí)間：嬰!Q：生蘭Ql!：l!摘要光電探測(cè)器在醫(yī)療、工業(yè)等許多領(lǐng)域有若廣泛的應(yīng)用。當(dāng)光電探測(cè)器在接收光信號(hào)時(shí)，容易受到

2、強(qiáng)激光信號(hào)的干擾和破壞。探測(cè)器被激光損傷后，表現(xiàn)為噪聲增加，性能下降。本文從理論和實(shí)驗(yàn)兩個(gè)方面對(duì)毫秒撒光輻照PIN光電探測(cè)器的損傷機(jī)理進(jìn)行了研究。論文先介紹了光電探測(cè)器的工作原理，然后概述了激光輯照探測(cè)器的損傷機(jī)理、激光輻照探測(cè)器損傷閩值的常用判定方法及影響損傷閩值的因素。通過(guò)實(shí)驗(yàn)測(cè)量了毫秒激光輻照探測(cè)器的損傷閾值。實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示，ms激光輻照光F乜探測(cè)器的損傷閾值為2563J／em2。通過(guò)軟件模擬激光輻照下靶材表面的溫度變化曲線分析靶材

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