射線探傷

1、第三章第三章射線探傷射線探傷教學目標：教學目標：一、了解射線的的產(chǎn)生、性質(zhì)及其衰減，了解各種射線檢測方法的基本原理；二、熟悉常見射線探傷設備及器材，能正確選擇X射線照相法設備參數(shù)；三、掌握X射線照相法檢測工藝，熟悉底片評定的方法，并能根據(jù)相關標準對焊縫質(zhì)量進行評級；四、了解射線探傷防護常識。一、一、任務導入：任務導入：射線探傷是利用射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的特性來發(fā)現(xiàn)其中缺陷的一種無損探傷方法。它可以檢查金屬和非金屬材料及其制品

2、的內(nèi)部缺陷，如焊縫中的氣孔、夾渣、未焊透等體積性缺陷。這種無損探傷方法有獨特的優(yōu)越性，即檢驗缺陷的直觀性、準確性和可靠性，而且，得到的射線底片可用于缺陷的分析和作為質(zhì)量憑證存檔。但此法也存在著設備較復雜、成本較高的缺點，并需要對射線進行防護。二、二、相關知識相關知識知識點一：射線的產(chǎn)生、性質(zhì)及其衰減知識點一：射線的產(chǎn)生、性質(zhì)及其衰減1X射線的產(chǎn)生用來產(chǎn)生X射線的裝置是X射線管。它由陰極、陽極和真空玻璃（或金屬陶瓷）外殼組成，其簡單結構和

3、工作原理如圖31所示。陰極通以電流加熱至白熾狀態(tài)時，其陽極周圍形成電子云，當在陽極與陰極間施加高壓時，電子加速穿過真空空間，高速運動的電子束集中轟擊陽極靶子的一個面積（幾平方毫米左右、稱實際焦點），電子被阻擋減速和吸收，其部分動能（約1%）轉(zhuǎn)換為X射線其余99%以上的能量變成熱能。e—－自然對數(shù)的底；δ—－透過物質(zhì)的厚度；μ—－衰減系數(shù)（㎝1）。知識點二、射線探傷的方法及其原理知識點二、射線探傷的方法及其原理（一）射線照相法（一）射線照

4、相法射線照相法是根據(jù)被檢工件與其內(nèi)部缺陷介質(zhì)對射線能量衰減程度的不同，使得射線透過工件后的強度不同，使缺陷能在射線底片上顯示出來的方法。如圖32所示，從X射線機發(fā)射出來的X射線透過工件時，由于缺陷內(nèi)部介質(zhì)對射線的吸收能力和周圍完好部位不一樣，因而透過缺陷部位的射線強度不同于周圍完好部位。把膠片放在工件適當位置，在感光膠片上，有缺陷部位和無缺陷部位將接受不同的射線曝光。再經(jīng)過暗室處理后，得到底片。然后把底片放在觀片燈上就可以明顯觀察到缺陷

5、處和無缺陷處具有不同的黑度。評片人員據(jù)此就可以判斷缺陷的情況。圖32射線照相法原理（二）射線熒光屏觀察法（二）射線熒光屏觀察法熒光屏觀察法是將透過被檢物體后的不同強度的射線，再投射在涂有熒光物質(zhì)的熒光屏上，激發(fā)出不同強度的熒光而得到物體內(nèi)部的影象的方法。此法所用設備主要由X射線發(fā)生器及其控制設備﹑熒光屏﹑觀察和記錄用的輔助設備﹑防護及傳送工件的裝置等幾部分組成。檢驗時，把工件送至觀察箱上，X射線管發(fā)出的射線透過被檢工件，落到與之緊挨著的