癲癇患兒腦細(xì)胞葡萄糖代謝與智商關(guān)系的研究.pdf

1、癲癇是神經(jīng)系統(tǒng)常見疾病之一，是腦內(nèi)神經(jīng)元群過度放電所引起的陣發(fā)性腦功能障礙。目前我國癲癇患者約有900萬，其中兒童約占2/3，小兒癲癇的發(fā)病率大約為3‰～6‰，癲癇對高級神經(jīng)機(jī)能損害作用較大，尤其可致智力障礙。有資料顯示我國患者各種認(rèn)知功能受損及心理障礙的發(fā)生率為30％～40％，國外發(fā)生率為20％-70％，嚴(yán)重影響了癲癇患兒的生活及生存質(zhì)量，受到了神經(jīng)病學(xué)界的廣泛關(guān)注，而如何改善癲癇患者的智力狀況及提高患者的生存質(zhì)量成為神經(jīng)科醫(yī)師所面臨

2、的一項(xiàng)重要課題。
　　 正電子發(fā)射計(jì)算機(jī)斷層掃描(positron emission tomography,PET)采用18F-雙脫氧葡萄糖(18F-FDG)測定腦組織葡萄糖代謝情況，以反應(yīng)局部腦功能狀況。國內(nèi)外研究顯示癲癇發(fā)作期為高代謝異常，發(fā)作間期為低代謝異常，PET可檢測腦細(xì)胞活動功能。
　　 本文通過對已確診癲癇的兒童進(jìn)行頭顱18F-FDG PET檢測及智力測驗(yàn)并對結(jié)果進(jìn)行分析。探討癲癇患兒腦細(xì)胞葡萄糖代謝狀況與

3、智力改變的關(guān)系，為減少癲癇患兒的智殘率，提高癲癇患兒生活質(zhì)量提供理論基礎(chǔ)。
　　 (一)對象和方法
　　 1.病例和分組
　　 選自我院2007年12月到2010年2月期間確診的癲癇患兒60例。男37例，女23例，平均年齡9.25±2.67歲。正常對照組15例，男9例，女6例，平均年齡9.20±2.31歲。
　　 2.每例患兒均進(jìn)行腦電圖、MRI檢查，發(fā)作間期進(jìn)行頭顱PET檢查并接受中國修定韋氏兒童智力量

4、表測試。對照組行頭顱PET檢查并接受中國修定韋氏兒童智力量表測試。PET檢查與中國修定韋氏兒童智力量表測試相隔時(shí)間不超過1周。
　　 3.統(tǒng)計(jì)學(xué)分析：本課題中計(jì)量資料以均數(shù)±標(biāo)準(zhǔn)差表示。用社會科學(xué)統(tǒng)計(jì)軟件包(statistical package for social sciences，SPSS)13.0統(tǒng)計(jì)軟件進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，包括t檢驗(yàn)、方差齊性檢驗(yàn)、方差分析、卡方檢驗(yàn)等。P＜0.05有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。
　　 (二)結(jié)果

5、r>　　 1.癲癇組語言智商(verbal intelligence quotient，VIQ)、操作智商(performanceintelligence quotient，PIQ)、全智商(full scale intelligence quotient，F(xiàn)IQ)均明顯低于正常對照組(p＜0.05)。
　　 2.PET正常的癲癇患兒的VIQ、PIQ、FIQ與正常對照組無顯著性差異(p＞0.05)，癲癇患兒PET異常組的三種智

6、商均值顯著低于癲癇患兒PET正常組(p＜0.05)。
　　 3.癲癇患兒PET異常組中單個(gè)病灶和多個(gè)病灶受損的患兒的VIQ、PIQ、FIQ明顯低于PET正常的患兒及正常對照組(p＜0.05)，多個(gè)病灶的患兒的VIQ、PIQ、FIQ明顯低于單個(gè)病灶的患兒組(p＜0.05)。
　　 4.癲癇患兒PET異常組中左側(cè)大腦受損、右側(cè)大腦受損和雙側(cè)大腦半球受損的患兒的VIQ、PIQ、FIQ明顯低于PET正常的患兒及正常對照組(p＜0

7、.05)。左側(cè)大腦半球受損與雙側(cè)大腦半球受損的患兒的VIQ、PIQ、FIQ明顯低于右側(cè)大腦受損組(p＜0.05)。
　　 5.癲癇患兒PET異常組中額葉受損組的VIQ、FIQ明顯低于顳葉受損組(p＜0.05)，多部位受損組的VIQ、PIQ、FIQ明顯低于顳葉受損組(p＜0.05)。
　　 6.癲癇患兒PET正常組與PET不正常組|VIQ-PIQ|＞12(VIQ與PIQ差異顯著)的頻數(shù)無顯著性差異(p＞0.05)。

8、　　 (三)結(jié)論
　　 1.癲癇患兒智力損害發(fā)生率為75％。
　　 2.癲癇患兒腦細(xì)胞葡萄糖代謝異常率為80％。
　　 3.癲癇患兒腦細(xì)胞葡萄糖代謝多病灶異常者的智力損害較單病灶異常者嚴(yán)重。
　　 4.癲癇患兒左側(cè)及雙側(cè)大腦半球異常者的智力損害較右側(cè)大腦半球異常者嚴(yán)重。
　　 5.癲癇患兒額葉受損者的智力損害較顳葉受損者嚴(yán)重。
　　 6.癲癇患兒智力受損與腦細(xì)胞葡萄糖代謝有關(guān)，腦細(xì)胞葡萄