系統(tǒng)貯存可靠性中參數(shù)漂移過程的研究.pdf

1、為了滿足市場激烈的競爭，使產品盡快進入市場，以及為了滿足顧客的高期望，產品必須做得更穩(wěn)健，更可靠，因此在短時間內產品幾乎觀察不到失效。在這種情況下，利用高應力水平下的退化數(shù)據來對產品的可靠性進行評估就變得很有必要。這種評估可通過加速退化測試來完成。這些試驗包括取代測試產品壽命而只測試產品性能隨時間退化的過應力測試。隨著工程技術和科學知識的發(fā)展，許多現(xiàn)代產品比過去有更長的壽命和更高的可靠性。這樣，壽命測量和退化測量要比過去花費更多的時間和

2、金錢。因此，在正常貯存條件下觀測失效時間就變得非常困難。在某些情況下甚至變得不可行。 本研究從實際工程背景和問題出發(fā)，基于具有貯存初始失效的系統(tǒng)貯存可靠性模型，R(t)=P(T≥t｜T>0)P(T>0)=R0Rs(t)，t≥0，應用加速退化試驗，加快參數(shù)漂移過程，推導系統(tǒng)失效規(guī)律，建立系統(tǒng)貯存可靠性理論模型，對系統(tǒng)的貯存可靠性及剩余壽命進行預測。本文在該領域的研究中，首次將伊藤過程引入到研究參數(shù)漂移過程，并將漂移方程X(t)=X