多層瓷介電容器長(zhǎng)期貯存壽命可靠性研究.pdf

1、本文分析了多層瓷介電容器的結(jié)構(gòu)、工藝、材料，對(duì)多層瓷介電容器在應(yīng)用中的可靠性隱患進(jìn)行了深入研究，針對(duì)多層瓷介電容器的薄弱環(huán)節(jié)制定了改進(jìn)措施，改進(jìn)后的多層瓷介電容器屬于高可靠產(chǎn)品，只存在與溫度相關(guān)的退化失效模式。本文研究制定了高可靠多層瓷介電容器適用的基于偽失效閾值的加速退化壽命試驗(yàn)方法，利用較短時(shí)間的常溫貯存數(shù)據(jù)確定偽失效閾值，對(duì)退化數(shù)據(jù)運(yùn)用線性退化模型進(jìn)行分析處理，得到了給定偽失效閾值條件下的偽失效壽命預(yù)計(jì)結(jié)果。為驗(yàn)證預(yù)計(jì)結(jié)果的準(zhǔn)確性

2、，采用了威布爾分布的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)方法和灰色系統(tǒng)理論模型GM(1,1)分別對(duì)加速退化數(shù)據(jù)和常溫貯存數(shù)據(jù)進(jìn)行了分析，結(jié)果表明本文提出的基于偽失效閾值的加速退化試驗(yàn)方法的壽命預(yù)計(jì)結(jié)果與上述兩種方法一致，因此利用基于偽失效閾值的加速貯存退化試驗(yàn)方法評(píng)價(jià)高可靠多層瓷介電容器的壽命是有效的、可行的。采用基于偽失效閾值的加速退化試驗(yàn)方法可以獲取有限壽命范圍內(nèi)的參數(shù)退化情況，與通?；谑Ыy(tǒng)計(jì)的加速貯存壽命試驗(yàn)相比，能夠縮短試驗(yàn)時(shí)間，成本更低，更適合工程應(yīng)

3、用。
　　論文的主要內(nèi)容包括以下幾個(gè)方面：
　　（1）針對(duì)多層瓷介電容器的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，對(duì)結(jié)構(gòu)的薄弱環(huán)節(jié)進(jìn)行了分析，通過總結(jié)導(dǎo)致多層瓷介電容器失效的原因，提出了工藝過程中的改進(jìn)措施，對(duì)多層瓷介電容器進(jìn)行貯存壽命評(píng)價(jià)的先決條件為多層瓷介電容器已經(jīng)消除了潛在失效模式，即多層瓷介電容器應(yīng)為高可靠產(chǎn)品。
　?。?）根據(jù)高可靠產(chǎn)品失效率低的特點(diǎn)，研究制定了基于阿倫尼斯模型的加速退化試驗(yàn)方法，利用常溫貯存數(shù)據(jù)確定了偽失效閾值，對(duì)加速退