基于MCIS抽樣的SRAM失效概率的估計.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、小概率事件的發(fā)生概率很小,但估計其發(fā)生概率具有重要的實際意義,它在很多領域得到推廣和應用,比如航天工程、保險、醫(yī)療等領域.隨著亞微米技術的發(fā)展,估計SRAM失效概率變得越來越重要.針對SRAM失效這一特定的小概率事件,目前的研究大多集中于正態(tài)分布的情形,本文將其推廣到一般分布.
　　在這篇文章中,我們首先介紹了小概率事件模擬的相關理論(傳統(tǒng)的MC抽樣、重要抽樣、Gibbs抽樣的原理).隨后,我們介紹了MCIS抽樣原理,并將其運用到

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