基于ATE的電源芯片的測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與性能分析.pdf

1、隨著近年來(lái)電子信息技術(shù)的迅猛發(fā)展，電源技術(shù)也隨之向著高速和高頻方向不斷發(fā)展。因此，電源管理(Power Manage)技術(shù)在信息產(chǎn)業(yè)技術(shù)的多個(gè)領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用。而隨著頻率的不斷提高，這就給如何對(duì)其動(dòng)態(tài)參數(shù)和靜態(tài)參數(shù)進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)試帶來(lái)了前所未有的挑戰(zhàn)。眾所周知，所有的商用化芯片最終都要依賴于ATE(Automatic Test Equipment)設(shè)備進(jìn)行量產(chǎn)測(cè)試。但由于各類ATE測(cè)試系統(tǒng)的性能提升明顯落后于PM產(chǎn)品性能的高速發(fā)展，

2、因此，對(duì)于更高集成度、更高精度、更低功耗的電源管理器芯片可能會(huì)面臨無(wú)法基于現(xiàn)有ATE測(cè)試平臺(tái)進(jìn)行量產(chǎn)測(cè)試的問題，或面臨配置有超高性能模擬模塊的ATE裝機(jī)少、測(cè)試成本昂貴的問題。
　　本課題為節(jié)約測(cè)試成本，簡(jiǎn)化測(cè)試流程設(shè)計(jì)，以一款A(yù)DI公司的電源管理芯片ADP2381為例，設(shè)計(jì)出一套易于操作的ATE測(cè)試系統(tǒng)和性能分析方案。該芯片可在4.5V~20V的輸入電壓下運(yùn)行，可以提供6A的輸出電流。輸出電壓可以從0.6 V調(diào)至輸入電壓的90％

3、。且ADP2381的開關(guān)頻率可以在250kHz~1.4 MHz之間選擇。本文首先對(duì)ADP2381的設(shè)計(jì)與測(cè)試在國(guó)內(nèi)外的發(fā)展?fàn)顩r作了簡(jiǎn)要的介紹，接下來(lái)對(duì)與其測(cè)試相關(guān)的測(cè)試?yán)碚撟髁酥鹨坏年U述，給出了ADP2381主要靜態(tài)參數(shù)和動(dòng)態(tài)參數(shù)，并對(duì)電源管理器芯片內(nèi)幾種重要的模塊進(jìn)行了介紹，包括控制單元，不同種類的穩(wěn)壓源，過(guò)電壓、過(guò)電流以及過(guò)溫度保護(hù)模塊和基準(zhǔn)模塊。其次，講述了ADP2381芯片的測(cè)試流程以及測(cè)試工具。分析了測(cè)試硬件的設(shè)計(jì)以及測(cè)試程序