ClO與XO(X=Cl、Br、I)自由基反應機理及電子密度拓撲分析.pdf

1、河北師范大學碩士學位論文ClO與XO(X=Cl、Br、I)自由基反應機理及電子密度拓撲分析姓名：周俊紅申請學位級別：碩士專業(yè)：物理化學指導教師：鄭世鈞孟令鵬20040520ClO與XO反應帆恥_；6乏fU了密度拓撲分析(3)研究了ClO與IO的反應機理，優(yōu)化得到了ICl02的七種異構(gòu)體構(gòu)型，他們的穩(wěn)定性順序與BrCIO，不同，其中CLl02構(gòu)型最穩(wěn)定，ICl00構(gòu)型最不穩(wěn)定，IRC計算確認了七種異構(gòu)體之間的相互轉(zhuǎn)化關(guān)系。找到了CIO與I

2、O反應可能的10個反應通道，能夠產(chǎn)生I原子的反應通道比較容易發(fā)生，與實驗結(jié)果保持一致。從電子密度拓撲學的角度分析了異構(gòu)化及離解過程中化學鍵的斷裂及鍵的變化規(guī)律，再次證明了我們所提出的有關(guān)不同熱效應反應中結(jié)構(gòu)過渡態(tài)超前和滯后與能量過渡態(tài)的結(jié)論的『F確性。本論文的創(chuàng)新之處在于：(1)優(yōu)化得到了一類新的異構(gòu)體OXCIO(X=CI、Br、I)，振動分析確認了該類異構(gòu)體為穩(wěn)定構(gòu)型。糾『F了前人找到的CIOOCI與CICl00之f剛互相轉(zhuǎn)化的錯誤的

3、過渡念，找到了他們之『自J互相轉(zhuǎn)化的合理的過渡態(tài)。糾『F了文獻報道的BrQOCI與BrCl02之怕_|可以互相轉(zhuǎn)化的錯誤。(2)對xo(X=C!、Br、I)相互反應機理進行了全面深入的研究，發(fā)現(xiàn)了新的反應通道，找到了該類反應的異同點。(3)從量子拓撲學的角度，對各反應通道關(guān)鍵點進行了分析，從微觀上討論了反應過程中化學鍵的斷裂、生成以及鍵的變化規(guī)律，找到了各反應過程的能量過渡態(tài)和結(jié)構(gòu)過渡念。關(guān)鍵詞：CIO自由基BrO自由基IO自由基反應機