基于TRIZ進(jìn)化理論的產(chǎn)品創(chuàng)新設(shè)計關(guān)鍵技術(shù)研究.pdf

1、TRIZ進(jìn)化理論揭示了技術(shù)系統(tǒng)產(chǎn)生、成長、成熟、衰老的過程，TRIZ進(jìn)化法則為未來技術(shù)狀態(tài)的預(yù)測提供了豐富的理論基礎(chǔ)。對當(dāng)前技術(shù)的分析和對未來技術(shù)的預(yù)測是創(chuàng)新的基礎(chǔ)和前提，利用TRIZ進(jìn)化理論分析和預(yù)測系統(tǒng)技術(shù)狀態(tài)，指導(dǎo)產(chǎn)品創(chuàng)新設(shè)計過程具有重要意義。專利是世界上最大的信息源，蘊含了大量設(shè)計知識，目前多數(shù)創(chuàng)新設(shè)計方法和創(chuàng)新過程的研究均以專利為分析對象。研究重點不同，提取和表達(dá)知識的側(cè)重點也不同，研究過程中建立的專利模型往往只對一種創(chuàng)新設(shè)計

2、方法有效，對于其他設(shè)計方法用起來并不合適。因此，本文以專利為研究對象，圍繞基于TRIZ進(jìn)化理論的產(chǎn)品創(chuàng)新設(shè)計過程對以下關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了研究:
　　專利知識的提取及應(yīng)用研究。通過對進(jìn)化路線提取環(huán)境和本體特點的比較，論證了用本體方法建模的可行性;對IPC類名中包含的設(shè)計知識分析，提出了IPC知識在本體建模中的三個應(yīng)用;研究了基于組件分解的設(shè)計知識分析方法，確定了便于進(jìn)行進(jìn)化分析的專利知識本體模型及建模步驟。
　　技術(shù)狀態(tài)分析及預(yù)測

3、過程研究?？偨Y(jié)了經(jīng)典TRIZ法則下的10條主要進(jìn)化路線，闡述了其具體內(nèi)容并對進(jìn)化狀態(tài)進(jìn)行了可視化表達(dá);對進(jìn)化規(guī)律和進(jìn)化本質(zhì)進(jìn)行研究，提出了問題解決過程中十種主要的“組件操作”方式;基于以上研究內(nèi)容，確定了基于“組件操作”的進(jìn)化路線及專利族提取過程。
　　進(jìn)化狀態(tài)-效應(yīng)映射原理研究。分析效應(yīng)的實施原理，論證了進(jìn)化狀態(tài)-效應(yīng)映射的可行性;總結(jié)了以功能基為基礎(chǔ)的功能描述詞匯和以流名詞為基礎(chǔ)的屬性參數(shù)描述詞匯，并研究了它們與效應(yīng)的對應(yīng)關(guān)系