第3章 軟件測(cè)試

1、,第三章 單元測(cè)試,[本章要點(diǎn)]單元測(cè)試的定義；單元測(cè)試同集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試的區(qū)別；單元測(cè)試環(huán)境的組成；單元測(cè)試的分析方法；單元測(cè)試的用例設(shè)計(jì)方法；單元測(cè)試的過(guò)程；單元測(cè)試舉例。,[本章目標(biāo)]掌握單元測(cè)試的概念；了解單元測(cè)試的誤區(qū)；了解單元測(cè)試與集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試的區(qū)別；掌握單元測(cè)試的策略；掌握單元測(cè)試分析的方法；掌握單元測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法。,3.1單元測(cè)試概述 通常而言，單元測(cè)試是在軟件

2、開(kāi)發(fā)過(guò)程中要進(jìn)行的最低級(jí)別的測(cè)試活動(dòng)，或者說(shuō)是針對(duì)軟件設(shè)計(jì)的最小單位——程序模塊，進(jìn)行正確性檢驗(yàn)的測(cè)試工作。其目的在于發(fā)現(xiàn)每個(gè)程序模塊內(nèi)部可能存在的差錯(cuò)。 在單元測(cè)試活動(dòng)中，軟件的獨(dú)立單元將在與程序的其他部分相隔離的情況下進(jìn)行測(cè)試，主要工作分為兩個(gè)步驟：人工靜態(tài)檢查和動(dòng)態(tài)執(zhí)行跟蹤。 單元測(cè)試的分工大致如下：一般由開(kāi)發(fā)組在一般由開(kāi)發(fā)組在開(kāi)發(fā)組組長(zhǎng)監(jiān)督下進(jìn)行，保證使,用合適的測(cè)試技術(shù)，根據(jù)單元測(cè)試計(jì)劃和

3、測(cè)試說(shuō)明文檔中制定的要求，執(zhí)行充分的測(cè)試；由編寫(xiě)該單元的開(kāi)發(fā)組中的成員設(shè)計(jì)所需要的測(cè)試用例，測(cè)試該單元并修改缺陷。 3.1.1單元測(cè)試誤區(qū) 1、單元測(cè)試是一種浪費(fèi)時(shí)間的工作 2、單元測(cè)試只能證明代碼做了什么 3、我是個(gè)很棒的程序員， 我是不是可以不進(jìn)行單元測(cè)試？ 4、集成測(cè)試能捕捉到所有的Bug 5、單元測(cè)試的成本效率不高,其實(shí)，在經(jīng)過(guò)了單元測(cè)試之后，系統(tǒng)集成過(guò)程將會(huì)大大地簡(jiǎn)化。

4、 3.1.2單元測(cè)試與集成測(cè)試區(qū)別 單元測(cè)試與集成測(cè)試的主要區(qū)別在于測(cè)試的對(duì)象不同。單元測(cè)試對(duì)象是實(shí)現(xiàn)具體功能的單元，一般對(duì)應(yīng)詳細(xì)設(shè)計(jì)中所描述的設(shè)計(jì)單元。集成測(cè)試是針對(duì)概要設(shè)計(jì)所包含的模塊以及模塊組合進(jìn)行的測(cè)試。 單元測(cè)試所使用的主要測(cè)試方法是基于代碼的白盒測(cè)試。而集成測(cè)試所使用的主要測(cè)試方法是基于功能的黑盒測(cè)試。,因?yàn)榧蓽y(cè)試要在所有要集成的模塊都通過(guò)了單元測(cè)試之后才能進(jìn)行，也就是說(shuō)在測(cè)試時(shí)間上，集

5、成測(cè)試要晚于單元測(cè)試，所以單元測(cè)試的好壞直接影響著集成測(cè)試。 單元測(cè)試的工作內(nèi)容包括模塊內(nèi)程序的邏輯、功能、參數(shù)傳遞、變量引用、出錯(cuò)處理、需求和設(shè)計(jì)中有具體的要求等方面測(cè)試。集成測(cè)試的工作內(nèi)容主要是驗(yàn)證各個(gè)接口、接口之間的數(shù)據(jù)傳遞關(guān)系、模塊組合后能否達(dá)到預(yù)期效果。 雖然單元測(cè)試和集成測(cè)試有一些區(qū)別，但是二者之間也有著千絲萬(wàn)縷的聯(lián)系。目前集成測(cè)試和單元測(cè)試的界限趨向模糊。,3.1.3單元測(cè)試與系統(tǒng)測(cè)試區(qū)

6、別 單元測(cè)試與系統(tǒng)測(cè)試的區(qū)別不僅僅在于測(cè)試的對(duì)象和測(cè)試的層次的不同，最重要的區(qū)別是測(cè)試性質(zhì)不同。在單元測(cè)試過(guò)程中，單元測(cè)試的執(zhí)行早于系統(tǒng)測(cè)試，測(cè)試的是軟件單元的具體實(shí)現(xiàn)、內(nèi)部邏輯結(jié)構(gòu)以及數(shù)據(jù)流向等。系統(tǒng)測(cè)試屬于后期測(cè)試，主要是根據(jù)需求規(guī)格說(shuō)明書(shū)進(jìn)行的，是從用戶角度來(lái)進(jìn)行的功能測(cè)試和性能測(cè)試等等，證明系統(tǒng)是否滿足用戶的需求。 單元測(cè)試中發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤容易進(jìn)行定位，并且多個(gè)單元測(cè)試可以并行進(jìn)行；而系統(tǒng)測(cè)試

7、發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤比較難定位。,3.2單元測(cè)試環(huán)境 由于一個(gè)模塊或一個(gè)方法（Method）并不是一個(gè)獨(dú)立的程序，在考慮測(cè)試它時(shí)要同時(shí)考慮它和外界的聯(lián)系，因此要用到一些輔助模塊，來(lái)模擬與所測(cè)模塊相聯(lián)系的其他模塊。一般把這些輔助模塊分為兩種： 1、驅(qū)動(dòng)模塊（driver）:相當(dāng)于所測(cè)模塊的主程序。 2、樁模塊（stub）:用于代替所測(cè)模塊調(diào)用的子模塊。 那么，所測(cè)模塊和與它相關(guān)

8、的驅(qū)動(dòng)模塊及樁模塊共同構(gòu)成了一個(gè)“測(cè)試環(huán)境”，如圖3-2所示。,圖3-2 單元測(cè)試環(huán)境,3.3單元測(cè)試策略 單元測(cè)試涉及到的測(cè)試技術(shù)通常有：針對(duì)被測(cè)單元需求的功能測(cè)試、用于代碼評(píng)審和代碼走讀的靜態(tài)測(cè)試、白盒測(cè)試、狀態(tài)轉(zhuǎn)換測(cè)試和非功能測(cè)試。 為了提高單元測(cè)試的質(zhì)量，只了解這些單元測(cè)試技術(shù)還遠(yuǎn)遠(yuǎn)不夠，還要選擇合適的測(cè)試策略。在選擇測(cè)試策略時(shí)，主要考慮如下3種方式：自頂向下（Top Down Unit Te

9、sting）的單元測(cè)試策略、自底向上的單元測(cè)試策略（Bottom up Unit Testing）和孤立的單元測(cè)試策略。,3.3.1自頂向下的單元測(cè)試策略 一）步驟： 1. 從最頂層開(kāi)始，把頂層調(diào)用的單元做成樁模塊。 2. 對(duì)第二層測(cè)試，使用上面已測(cè)試的單元做驅(qū)動(dòng)模塊。 3. 依次類(lèi)推，直到全部單元測(cè)試結(jié)束。 二）優(yōu)點(diǎn)：可以在集成測(cè)試之前為系統(tǒng)提供早期的集成途徑。 三）缺點(diǎn)：

10、單元測(cè)試被樁模塊控制，隨著單元測(cè)試的不斷進(jìn)行，測(cè)試過(guò)程也會(huì)變得越來(lái)越復(fù)雜，測(cè)試難度以及開(kāi)發(fā)和維護(hù)的成本都不斷增加；,要求的低層次的結(jié)構(gòu)覆蓋率也難以得到保證；由于需求變更或其他原因而必須更改任何一個(gè)單元時(shí)，就必須重新測(cè)試該單元下層調(diào)用的所有單元；低層單元測(cè)試依賴頂層測(cè)試，無(wú)法進(jìn)行并行測(cè)試，使測(cè)試進(jìn)度受到不同程度的影響，延長(zhǎng)測(cè)試周期。 四）總結(jié)：從上述分析中，不難看出該測(cè)試策略的成本要高于孤立的單元測(cè)試成本，因此從測(cè)試成本方面來(lái)考慮

11、，并不是最佳的單元測(cè)試策略。 3.3.2自底向上的單元測(cè)試 一）步驟： 1、先對(duì)模塊調(diào)用圖上的最底層模塊開(kāi)始測(cè)試，模擬調(diào)用該模塊的模塊為驅(qū)動(dòng)模塊。,2、其次，對(duì)上一層模塊進(jìn)行單元測(cè)試，用已經(jīng)被測(cè)試過(guò)的模塊做樁模塊。 3、依次類(lèi)推，直到全部單元測(cè)試結(jié)束。 二）優(yōu)點(diǎn)：不需要單獨(dú)設(shè)計(jì)樁模塊。 三）缺點(diǎn)：隨著單元測(cè)試的不斷進(jìn)行，測(cè)試過(guò)程會(huì)變得越來(lái)越復(fù)雜，測(cè)試周期延長(zhǎng)，測(cè)試和維護(hù)的成本增加；隨著各

12、個(gè)基本單元逐步加入，系統(tǒng)會(huì)變得異常龐大，因此測(cè)試人員不容易控制；越接近頂層的模塊的測(cè)試其結(jié)構(gòu)覆蓋率就越難以保證； 另外，頂層測(cè)試易受底層模塊變更的影響，任何一個(gè)模塊修改之后，直接或間接調(diào)用該模塊的所有單元都要重新測(cè)試。,由于只有在底層單元測(cè)試完畢之后才能夠進(jìn)行頂層單元的測(cè)試，所以并行性不好。另外，自底向上的單元測(cè)試也不能和詳細(xì)設(shè)計(jì)、編碼同步進(jìn)行。 四）總結(jié)：相對(duì)其它測(cè)試策略而言，該測(cè)試策略比較合理,尤其是需要考慮

13、對(duì)象或復(fù)用時(shí)。它屬于面向功能的測(cè)試，而非面向結(jié)構(gòu)的測(cè)試。對(duì)那些以高覆蓋率為目標(biāo)或者軟件開(kāi)發(fā)時(shí)間緊張的軟件項(xiàng)目來(lái)說(shuō)，這種測(cè)試方法不適用。 3.3.3孤立測(cè)試 一）步驟：無(wú)需考慮每個(gè)模塊與其他模塊之間的關(guān)系，分別為每個(gè)模塊單獨(dú)設(shè)計(jì)樁模塊和驅(qū)動(dòng)模塊，逐一完成所有單元模塊的測(cè)試。,二）優(yōu)點(diǎn)：該方法簡(jiǎn)單、容易操作，因此所需測(cè)試時(shí)間短，能夠達(dá)到高覆蓋率。 三）缺點(diǎn)：不能為集成測(cè)試提供早期的集成途徑。依賴結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)信息，需要設(shè)

14、計(jì)多個(gè)樁模塊和驅(qū)動(dòng)模塊，增加了額外的測(cè)試成本。 四）總結(jié)：該方法是比較理想的單元測(cè)試方法。如輔助適當(dāng)?shù)募蓽y(cè)試策略，有利于縮短項(xiàng)目的開(kāi)發(fā)時(shí)間。 3.3.4綜合測(cè)試 在單元測(cè)試中，為了有效地減少開(kāi)發(fā)樁模塊的工作量，可以考慮綜合自底向上測(cè)試策略和孤立測(cè)試策略。,3.4單元測(cè)試分析 一般可以從如下幾個(gè)方面進(jìn)行分析和測(cè)試，即： 1、判斷得到的結(jié)果是否正確？ 因?yàn)?，?duì)于測(cè)試

15、而言，首要的任務(wù)就是察看一下所期望的結(jié)果是否正確，即對(duì)結(jié)果進(jìn)行驗(yàn)證。 2、判斷是否滿足所有的邊界條件？ 邊界條件是指軟件計(jì)劃的操作界限所在的邊緣條件。邊界條件測(cè)試是單元測(cè)試中最后也是最重要的一項(xiàng)任務(wù)。在使用邊界值測(cè)試的方法時(shí)，不妨結(jié)合實(shí)際項(xiàng)目參考以下測(cè)試技巧：輸入了完全偽造或者和要求不一致的數(shù)據(jù)。 1）輸入一個(gè)格式錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。,2）提供一個(gè)空值或者不完整的值。 3）與意

16、料之中的值相差很遠(yuǎn)的值。 4）假如一個(gè)列表中不允許有重復(fù)的數(shù)值存在，就可以給它傳入一組存在重復(fù)數(shù)值的列表；如果某個(gè)字段的值要求唯一，那么可以輸入兩個(gè)或多個(gè)相同的數(shù)值來(lái)進(jìn)行測(cè)試。 5）假如一個(gè)列表中不允許有重復(fù)的數(shù)值存在，就可以給它傳入一組存在重復(fù)數(shù)值的列表；如果某個(gè)字段的值 要求唯一，那么可以輸入兩個(gè)或多個(gè)相同的數(shù)值來(lái)進(jìn)行測(cè)試。 6） 如果要求按照一定的順序來(lái)存儲(chǔ)一些數(shù)據(jù)，那么可以輸入一些順序打亂的數(shù)據(jù)

17、來(lái)做測(cè)試。,7）對(duì)于一些做了安全限制的部分，盡量通過(guò)各種途徑嘗試能否繞過(guò)安全限制的測(cè)試。 8） 如果功能的啟用有一定的順序限制，就用和期望不一致的順序來(lái)進(jìn)行測(cè)試。 3、分析能否使用反向關(guān)聯(lián)檢查？ 在實(shí)際程序中，有一些方法可以使用反向的邏輯關(guān)系來(lái)驗(yàn)證它們。 4、分析是否能使用其他手段來(lái)交叉檢查一下結(jié)果？ 一般而言，對(duì)某個(gè)值進(jìn)行計(jì)算會(huì)有一種以上的算法，但我們會(huì)因考慮到運(yùn)行效率或其他方面

18、的原因而選擇其中的一種。 5、分析是否可以強(qiáng)制一些錯(cuò)誤發(fā)生？,在實(shí)際使用過(guò)程當(dāng)中，總會(huì)有意想不到各種各樣的情況和錯(cuò)誤發(fā)生。 6、分析模塊接口 數(shù)據(jù)在接口處出錯(cuò)就好像丟掉了進(jìn)入大門(mén)的鑰匙，無(wú)法進(jìn)行下一步的工作，只有在數(shù)據(jù)能正確流入、流出模塊的前提下，其他測(cè)試才有意義。 7、分析局部數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu) 局部數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)往往是錯(cuò)誤的根源，對(duì)其檢查主要是為了保證臨時(shí)存儲(chǔ)在模塊內(nèi)的數(shù)據(jù)在程序執(zhí)行

19、過(guò)程中完整、正確，因此應(yīng)仔細(xì)設(shè)計(jì)測(cè)試用例。 8、 分析獨(dú)立路徑,在模塊中應(yīng)對(duì)每一條獨(dú)立執(zhí)行路徑進(jìn)行測(cè)試，單元測(cè)試的基本任務(wù)是保證模塊中每條語(yǔ)句至少執(zhí)行一次。 9、 分析出錯(cuò)處理是否正確 一個(gè)好的設(shè)計(jì)應(yīng)能預(yù)見(jiàn)各種出錯(cuò)條件，并進(jìn)行適當(dāng)?shù)某鲥e(cuò)處理，即預(yù)設(shè)各種出錯(cuò)處理通路。 3.5單元測(cè)試用例設(shè)計(jì) 單元測(cè)試用例的設(shè)計(jì)既可以使用白盒測(cè)試也可以使用黑盒測(cè)試，但以白盒測(cè)試為主。 白

20、盒測(cè)試進(jìn)入的前提條件是測(cè)試人員已經(jīng)對(duì)被測(cè)試對(duì)象有了一定的了解，基本上明確了被測(cè)試軟件的邏輯結(jié)構(gòu)。,黑盒測(cè)試是要首先了解軟件產(chǎn)品具備的功能和性能等需求，再根據(jù)需求設(shè)計(jì)一批測(cè)試用例以驗(yàn)證程序內(nèi)部活動(dòng)是否符合設(shè)計(jì)要求的活動(dòng)。 測(cè)試人員在實(shí)際工作中至少應(yīng)該設(shè)計(jì)能夠覆蓋如下需求的基于功能的單元測(cè)試用例： 測(cè)試程序單元的功能是否實(shí)現(xiàn)； 測(cè)試程序單元性能是否滿足要求（可選）； 是否有可選的其它測(cè)試

21、特性，如邊界、余量、安全性、可靠性、強(qiáng)度測(cè)試、人機(jī)交互界面測(cè)試等。 無(wú)論是白盒測(cè)試還是黑盒測(cè)試，每個(gè)測(cè)試用例都應(yīng)該包含下面4 個(gè)關(guān)鍵元素：,(1) 被測(cè)單元模塊初始狀態(tài)聲明，即測(cè)試用例的開(kāi)始狀態(tài)（僅適用于被測(cè)單元維持了調(diào)用中間狀態(tài)的情況)； (2) 被測(cè)單元的輸入，包含由被測(cè)單元讀入的任何外部數(shù)據(jù)值； (3) 該測(cè)試用例實(shí)際測(cè)試的代碼，用被測(cè)單元的功能和測(cè)試用例設(shè)計(jì)中使用的分析來(lái)說(shuō)明，如：?jiǎn)卧?/p>

22、哪一個(gè)決策條件被測(cè)試； (4) 測(cè)試用例的期望輸出結(jié)果（在測(cè)試進(jìn)行之前的測(cè)試說(shuō)明中定義）。 一、測(cè)試用例設(shè)計(jì)步驟 以下描述進(jìn)行測(cè)試用例設(shè)計(jì)的6步通用過(guò)程。,步驟1：首先使被測(cè)單元運(yùn)行； 這個(gè)階段適合的技術(shù)有： ①模塊設(shè)計(jì)說(shuō)明導(dǎo)出的測(cè)試 ②對(duì)等區(qū)間劃分 步驟2：正面測(cè)試(Positive Testing)

23、 這個(gè)階段適合的技術(shù)： ①設(shè)計(jì)說(shuō)明導(dǎo)出的測(cè)試 ②對(duì)等區(qū)間劃分 ③狀態(tài)轉(zhuǎn)換測(cè)試 步驟3：負(fù)面測(cè)試(Negative Testing) 適合的技術(shù)有： ①錯(cuò)誤猜測(cè),②邊界值分析 ③內(nèi)部邊界值測(cè)試 ④狀態(tài)轉(zhuǎn)換測(cè)試 步驟4:

24、模塊設(shè)計(jì)需求中其它測(cè)試特性用例設(shè)計(jì) 適合的技術(shù)：設(shè)計(jì)說(shuō)明導(dǎo)出的測(cè)試 步驟5：覆蓋率測(cè)試用例設(shè)計(jì) 適合的技術(shù)： ①分支測(cè)試 ②條件測(cè)試 ③數(shù)據(jù)定義－使用測(cè)試 ④狀態(tài)轉(zhuǎn)換測(cè)試 步驟6：測(cè)試執(zhí)行,步驟7：完善代碼覆蓋 適合的技術(shù)：

25、 ①分支測(cè)試 ②條件測(cè)試 ③設(shè)計(jì)定義――試驗(yàn)測(cè)試 ④狀態(tài)轉(zhuǎn)換測(cè)試,3.6單元測(cè)試過(guò)程 圖3-7從宏觀的角度概括了單元測(cè)試的工作過(guò)程圖。 一、單元測(cè)試進(jìn)入和退出準(zhǔn)則 如表3-1和表3-2所示：,表3-1 進(jìn)入準(zhǔn)則,,表3-2 退出準(zhǔn)則,二、單元測(cè)試過(guò)程,,圖3-7 單元測(cè)試工作過(guò)程,（1）準(zhǔn)備階段（2）編制階段（3）代碼審查階段

26、（4）單元測(cè)試階段（5）評(píng)審、提交階段,,,3.7單元測(cè)試舉例 一、單元測(cè)試計(jì)劃 1. 簡(jiǎn)介 這份文檔的目標(biāo)是詳細(xì)描述對(duì)兩票系統(tǒng)的可以實(shí)現(xiàn)在二次系統(tǒng)圖上進(jìn)行圖形開(kāi)票模塊的功能驗(yàn)證的測(cè)試過(guò)程。 2. 本測(cè)試的總目標(biāo)： 是否實(shí)現(xiàn)了需求文檔中定義的所有功能。 3. 完整性需求 在測(cè)試該模塊是否實(shí)現(xiàn)了需求文檔中定義的所有功能之前，應(yīng)該做如下兩項(xiàng)工作：,①測(cè)試數(shù)據(jù)初

27、始化是否無(wú)誤； ②測(cè)試二次圖開(kāi)票GUI界面是否與系統(tǒng)維護(hù)模塊顯示一致。 4. 單元測(cè)試終止標(biāo)準(zhǔn) ①硬件資源不足或故障造成軟件無(wú)法運(yùn)行 ②軟件運(yùn)行后無(wú)法正確顯示（如：因數(shù)據(jù)初始化有誤造成GUI界面同系統(tǒng)維護(hù)模塊顯示不一致或不正確等）； ③所有功能測(cè)試均已經(jīng)完成 5. 資源需求 ①軟件資源 操作系統(tǒng)：windows 2000,web服務(wù)器：Tomcat 5.0

28、 數(shù)據(jù)庫(kù)服務(wù)器：SQL Server 2000 瀏覽器：Microsoft IE 6.0 測(cè)試工具：Junit ②硬件資源 同開(kāi)發(fā)用pc機(jī)配置相同即可。 ③測(cè)試進(jìn)度,表3-3 二次系統(tǒng)圖圖形開(kāi)票模塊,6. 準(zhǔn)備測(cè)試的特征 以下特征將被測(cè)試，以確保該模塊能滿足需求規(guī)格說(shuō)明書(shū)中指定的需求： 需求2.2.1 用戶界面 需求2.2

29、.2 彈出菜單 需求2.2.3圖形開(kāi)票 7. 不準(zhǔn)備測(cè)試的特征 本次測(cè)試將不考慮是否能夠同一次系統(tǒng)圖圖形開(kāi)票模塊的集成。 8. 測(cè)試方法 該單元測(cè)試方法包括功能測(cè)試、GUI測(cè)試。,9. 通過(guò)/失敗標(biāo)準(zhǔn) 10. 測(cè)試結(jié)束后須提交的產(chǎn)物包括以下幾個(gè)文檔： 本測(cè)試計(jì)劃 測(cè)試規(guī)格說(shuō)明文檔 測(cè)試結(jié)果報(bào)告 向測(cè)試經(jīng)理和開(kāi)發(fā)經(jīng)理提交

30、的每日測(cè)試狀態(tài)報(bào)告 缺陷報(bào)告 11、測(cè)試執(zhí)行人員 12、風(fēng)險(xiǎn)和應(yīng)急計(jì)劃,,二、測(cè)試的設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā) 測(cè)試設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā)要以測(cè)試計(jì)劃作為輸入。在設(shè)計(jì)測(cè)試時(shí)，首先應(yīng)明確測(cè)試目標(biāo)（細(xì)化測(cè)試的方法和范圍）；確定每個(gè)測(cè)試的輸入規(guī)格說(shuō)明；確定每個(gè)測(cè)試使用的測(cè)試配置；復(fù)查測(cè)試設(shè)計(jì)的覆蓋率和測(cè)試的準(zhǔn)確度。 在對(duì)本單元進(jìn)行測(cè)試時(shí)所采用的方法是：先完成黑盒測(cè)試，然后統(tǒng)計(jì)白盒覆蓋率，針對(duì)未覆蓋的

31、邏輯單位設(shè)計(jì)測(cè)試用例覆蓋它。 然后，就應(yīng)該開(kāi)發(fā)測(cè)試用例，應(yīng)該注意的是在測(cè)試用例中應(yīng)該盡可能詳細(xì)地描述測(cè)試過(guò)程，對(duì)于耗時(shí)的測(cè)試進(jìn)行自動(dòng)化。 最后，驗(yàn)證和調(diào)試測(cè)試。,3.8單元測(cè)試經(jīng)驗(yàn)總結(jié) 測(cè)試人員在進(jìn)行測(cè)試的工作過(guò)程中，應(yīng)該注意積累測(cè)試工作經(jīng)驗(yàn)，這樣可以縮短單元測(cè)試的時(shí)間，提高測(cè)試效果和效率。如： 1、在做單元測(cè)試的過(guò)程中，要靈活選用測(cè)試用例設(shè)計(jì)技術(shù)，如本章中的兩票系統(tǒng)單元測(cè)試過(guò)程

32、中，首先使用黑盒測(cè)試用例設(shè)計(jì)技術(shù)，然后根據(jù)相應(yīng)的覆蓋率統(tǒng)計(jì)再補(bǔ)充白盒測(cè)試用例。既減少了測(cè)試工作的重復(fù)，又保證了單元測(cè)試的完整性。 2、應(yīng)該盡量開(kāi)發(fā)簡(jiǎn)單測(cè)試驅(qū)動(dòng)代碼，增強(qiáng)其可讀性。最重要的是，單元測(cè)試代碼中不能包含分支和邏輯語(yǔ)句，因?yàn)檫@意味著有多個(gè)測(cè)試在同時(shí)進(jìn)行。這樣將會(huì)使測(cè)試代碼變得難以理解和維護(hù)。,本章小結(jié) 通過(guò)單元測(cè)試，我們驗(yàn)證開(kāi)發(fā)人員所書(shū)寫(xiě)的編碼是可以按照其所設(shè)想的方式執(zhí)行的，產(chǎn)出了符合預(yù)期值的結(jié)果。這就實(shí)

33、現(xiàn)了單元測(cè)試的目的。相比后面階段的測(cè)試，單元測(cè)試的創(chuàng)建更簡(jiǎn)單，維護(hù)更容易，并且可以更方便的進(jìn)行重復(fù)。 從全程的費(fèi)用來(lái)考慮， 相比起那些復(fù)雜且曠日持久的集成測(cè)試，或是不穩(wěn)定的軟件系統(tǒng)來(lái)說(shuō)，單元測(cè)試所需的費(fèi)用是很低的。 模塊單元設(shè)計(jì)完畢之后的開(kāi)發(fā)階段就是單元測(cè)試。,值得注意的是，如果在書(shū)寫(xiě)代碼之前就進(jìn)行單元測(cè)試，測(cè)試設(shè)計(jì)就會(huì)顯得更加靈活，因?yàn)橐坏┐a完成，對(duì)軟件的測(cè)試可能就受制于代碼，傾向于測(cè)試該段代碼完