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文檔簡介
1、X SERIESII,更實用更耐用,更高的分析效率,更好的儀器性能,等離子體質(zhì)譜儀,X SERIESII – 一種可以根據(jù)實際應用的需要,裁剪式配置的ICP-MS,緊湊的臺式 ICP-MS- ISO9001 QA/QC不僅僅只是一臺儀器完整的應用分析方案 提高分析效率 Analytical protocols and specialized training響應的平臺 CarePl
2、an? Support Package由廠方培訓的工程師FTP Site 在線支持,X SERIESII ICP-MS,世界上最小的臺式ICP-MS符合有關(guān)國際標準要求,最高的分析速率可裁剪式的儀器配置特征即插即用的儀器升級能力免維護保養(yǎng)的質(zhì)譜系統(tǒng)業(yè)已證明了的優(yōu)異的系統(tǒng)軟件PlasmaLab? Windows® software,最小的臺式ICP-MS儀器,在現(xiàn)代繁忙的實驗室里,講究高性能精巧實用的分析儀器
3、臺面儀器尺寸 110X 54cm 僅相當于一臺原子吸收光譜儀安裝在標準實驗桌上特別迎合凈化實驗室對儀器的小尺寸的要求儀器的熱的排放小和抽提要求也低,降低儀器安裝和運行的費用。,基本儀器 X SERIESII ICP-MS緊湊的,臺式,重負荷儀器符合國際標準(EPA, JIS, TVO and DWI/NS30 )和標準操作程序日常環(huán)境實驗室即插即用的選購件 增加儀器功能和提高儀器性能日常和研究實驗室按具體應用的需要
4、,利用可裁剪式的儀器配置- 臨床,地質(zhì),核化學,微電子,食品分析等等實驗室,實用性,分析效率,儀器性能,X SERIESII ICP-MS: 基本儀器組件,3 氣體質(zhì)量流量控制器,PlasmaLab 系統(tǒng)軟件,室溫進樣系統(tǒng),計算機控制可調(diào)速的蠕動泵,全固態(tài) 27 MHz ICP 源,Xt 接口,Infinity 離子透鏡系統(tǒng),高性能四極桿質(zhì)譜系統(tǒng),ETP同時型 analog/PC 檢測器,等離子體屏蔽裝置自動XYZ炬位調(diào)整裝置,,
5、,,,,,,,,,π 提取模式,進樣系統(tǒng),敞開式進樣系統(tǒng)外部安裝的霧化室快速拆卸的小死體積的霧化室集成緊湊的三通道蠕動泵最佳化的連接管線最小死體積方便地可以與第三部分的附件連接,智能進樣系統(tǒng),PICO 監(jiān)測– 智能監(jiān)測樣品的提升和沖洗效果符合國際標準要求在線加內(nèi)標傳統(tǒng)的和低流量的霧化器的兼容性全自動進樣器和蠕動泵控制- ACL scripts for enhanced productivity,ICP 等離子體離子源,
6、工業(yè)標準27.12 MHz 固態(tài)發(fā)生器自動精確的炬位調(diào)整,包括水平,垂直和采樣深度最佳化炬管設計快速安裝拆卸,自我定位炬管抗腐蝕性蒸氣擋板標準配置3 個自動質(zhì)量流量控制器,PlasmaScreen Plus 等離子體屏蔽裝置,第三代屏蔽裝置設計使用銀質(zhì)屏蔽圈和石英護套,最大的使用壽命使用者可選擇不同的操作方式快速插入式設計,方便的安裝和拆卸提供更低的能量擴散和更高的信噪比,等離子體樣品接口,最佳接口幾何形狀設計專利采樣
7、錐和截取錐設計- 大口徑1.1mm 和 0.75mm- 耐鹽不易堵- 對樣品基體沉積的高容忍性- 很低的清洗頻率錐口快速拆卸特性二種接口,不同應用的需要 - Xt 接口- Xs 接口,Xt 接口 – 最佳的背景等效濃度 BEC,離子通道模擬圖顯示提取透鏡的負電勢場被截取錐的頂尖所屏蔽沉積在錐口上的元素,而后被濺射再被等離子體離子化后再不被這種光學系統(tǒng)聚焦,僅僅來之截取錐的離子束的中心核被接受.保護性
8、離子提取 p 提取,,Extraction Lens,,π Extraction Lens,,,Extraction Field,Ion Beam,,Xt 接口,長時間對高基體樣品溶液的承受能力,杰出的信號穩(wěn)定性,獲得最大分析速率能承受大批樣品分析,而且在分析過程之間最少的工作曲線再校正擴展的動態(tài)范圍 - 線性測定 Na,Mg,K,Ca to >200 mg/L, 同時測定幾個ng/
9、L Pb & Cd高信噪比,111Cadmium,23Sodium,Xt 接口--性能特征,,Na calibration to 180 ppm. (Using the high resolution quadrupole switching resolution and on-line internal standards > 500 ppm is possible.),Fe calibration showing a
10、 Blank Equivalent Conentration level of 23 ppb from the ArO interference.,免維護保養(yǎng)的質(zhì)譜系統(tǒng),創(chuàng)新的頂部開蓋的真空室,內(nèi)部無電纜連接的質(zhì)譜儀快速定位,模塊式系統(tǒng)組件,確保精確的調(diào)諧,堅固可靠高效率六極桿離子導向,配置chicane 離子偏轉(zhuǎn)鏡 離軸光路設計,大尺寸鉬桿,帶RF預桿,ICP-MS的最佳化四極桿設計,保護性的離子提取,控制進入碰撞反應池的離子能
11、量分布,提供相對于反應化學和動能歧視需要的最佳能量的離子,碰撞池和分析器之間的離子束補償電勢,降低氣體負載,導致非常低的連續(xù)背景和獲得最好的峰形。,Infinity 透鏡系統(tǒng) – 高效率離子導向,所有在滑動閥之后的質(zhì)譜組件都不需要用戶自己清洗,,,,,Infinity 透鏡 – 高效率離子導向,快速安裝拆卸,模塊式,免維護保養(yǎng)設計ICPMS中最低的隨機背景 (<0.5cps) – 最高的信噪比簡單的人機對話式全自動儀器條件優(yōu)化
12、過程優(yōu)異的基體承受能力,長時間內(nèi)不需要重復校正,最大的分析效率現(xiàn)場升級能力---第三代碰撞池技術(shù)– CCTED,免維護保養(yǎng)的質(zhì)譜系統(tǒng),三級真空系統(tǒng),配置先進的分流分子渦輪泵單個機械真空泵,可以被安置在離主機較遠的地方改進的儀器可靠性和降低使用者的開銷允許用戶從基本配置的 X SeriesII 儀器升級到CCT碰撞池,而不增加真空泵系統(tǒng)改造的開支。,免維護保養(yǎng)的質(zhì)譜系統(tǒng),大的四極桿分析器,固態(tài)RF發(fā)生器在同一工作條件下,獲
13、得高穩(wěn)定性,高傳輸效率,和最高的豐度靈敏度計算機控制的可變的高低分辨率用于獲得最佳儀器性能,增加應用靈活性,擴展動態(tài)范圍至2000ppm,高性能檢測器系統(tǒng),新的同時型分列式打拿電極電子倍增器同時工作在脈沖計數(shù)和模擬模式工作狀態(tài)獨一無二的插入式支架,用戶自己可以簡單地插入安裝,無需導線連接,高性能檢測器系統(tǒng),大于 8 個數(shù)量級的動態(tài)范圍智能過載保護全自動檢測器交叉校正提供優(yōu)異的線性先進的模擬計數(shù)模式之間的快速切換電子電路,Pu
14、lse CountingAnalog,Ba at 7ppm,X SERIESII ICP-MS: 可裁剪式系統(tǒng)組件,半導體制冷恒溫霧化室高性能 Xs 接口CCTED – 第三代碰撞池技術(shù)全惰性進樣系統(tǒng)有機試劑包附加的質(zhì)量流量計 ,用于低流量霧化器和使用混合氣體的激光燒蝕系統(tǒng)進樣LC/GC 接口和激光燒蝕接口,,霧化室半導體制冷溫度控制器,霧化室快速,精確的溫度控制獲得最佳儀器性能- 保持樣品氣溶膠的穩(wěn)定形成,不依賴
15、于實驗室的室溫控制典型操作在 2oC- 降低溶劑進入等離子體內(nèi)的過多負載 - 低的氧化物干擾和其它干擾影響- 改善方法撿出限 MDLs能用于標準石英或惰性材料霧化室水溶液進樣與使用有機試劑包的有機試劑進樣之間的快速更換,溫度可調(diào)諧的半導體制冷溫度控制器,,Xs 接口,提供更高的靈敏度和均勻的全質(zhì)量數(shù)范圍內(nèi)的響應,同時保持超低的背景特征業(yè)已經(jīng)受驗證的采樣錐和截取錐專利設計可互換的 Xt 接口同樣快速安裝拆卸接口特
16、征專門為更高靈敏度和冷等離子體操作的設計,Xs- 性能保證值,Operation with the Xs- Interface and PlasmaScreen at normal RF powers (>1400w) enhances the sensitivity without compromising the extremely low background of the X SERIESII ICP-MS Ess
17、ential for demanding applications requiring the ultimate sensitivity and signal/background,Xs- 冷等離子體應用,在冷等離子體 (?500w) 條件下,Xs接口和PlasmaScreen? Plus 消除了許多傳統(tǒng)的多原子分子干擾允許在干凈的基體中檢測ppt水平的Li, Na, K, Ca, and Fe ,而不需要碰撞或反應池技術(shù)
18、最佳的堿金屬撿出限自動切換冷熱等離子體模式,Xs- 冷等離子體保證性能,,Xs- 典型冷等離子體性能,X SeriesII ICP-MS, fitted with Xs- Interface and PlasmaScreenTypical Cool Plasma Performance BEC and 3-sigma LOD,白金Xs 錐口高靈敏度對微電子樣品理想的質(zhì)量數(shù)響應(低質(zhì)量數(shù)范圍內(nèi)的高靈敏度)保護性離子提取選擇,
19、用于超低峰背景惰性高純進樣系統(tǒng)聚丙烯或者PFA 材料霧化室可卸式炬管,蘭寶石或Pt 中心管PFA 霧化器,Xs+ p 提取,離子通道電勢圖顯示使用稍正的電壓提取離子時,允許離子從炬管通過聚焦,但防止離子從錐口濺射出。使用這種截取錐設計和新的樣品錐,以及p 提取模式,可獲得比老儀器更好的背景等效濃度,使用一種稍正的提取電壓可獲得極低的背景等效濃度保護性離子提取 p 提取,,Extraction Lens,,π Ex
20、traction Lens,,,Extraction Field,Ion Beam,,,,Xs+ 模式典型BEC值/撿出限值,Li calibration with Xs InterfaceXs+ mode with +8v extraction.BEC of <1ppt,在線除去干擾 - 改善準確性和撿出限標準配置2 個質(zhì)量流量控制器,允許切換使用碰撞氣或反應氣He/H2 混合氣 或 He/NH3 混合氣, 對
21、所有元素綜合考慮的最佳條件自動在一個樣品分析過程中的切換PlasmaLab 軟件的智能切換順序?qū)τ诖笈鷺悠?,提供最高分析速率先進的動能歧視效應 - 消除不希望的副反應產(chǎn)物獨一無二的即插即用升級模塊 - 沒有降級標準配置的ICP-MS的性能,第三代碰撞池 CCTED 選購件,第三代碰撞池 CCTED 選件,保護性離子提取的光學設計,控制來自等離子體離子的能量分布,使進入碰撞池的離子同時適應于反應化學和動
22、能歧視池體前面的新的離子透鏡工作在高的直流靜電場上防止樣品基體的沉淀,防止由此產(chǎn)生的漂移高真空區(qū)內(nèi)的離子透鏡免維護保養(yǎng)免清洗或免替換碰撞池,第三代碰撞池 CCTED – 性能,1ppb Rh,Data acquired on an X SeriesII ICP-MS, fitted with PlasmaScreen, Peltier and CCTED Pressurized mode using 8ml min-1 of
23、 premixed 8% hydrogen in helium as the collision gasNote - No loss of sensitivity in Rh internal standard response whilst the Argon molecular species overlapping the As, Se, Br isotopes are completely eliminated in CCT
24、mode,碰撞池CCT – 保證性能,,第三代碰撞池 3rd Generation CCT – 典型碰撞池的反應化學性能,Cd in 1ppm Mo (MoO interferes)1.8 ml/min O2BEC <3 ppt,V in 5% HCl1% NH3 in He at 5.5 ml/minBEC <2 ppt,Ca in 1% HNO3 at 1400w RFH2 reaction gas at
25、6 ml/minBEC <5 ppt,第三代碰撞池 3rd Generation CCT – 典型動能歧視模式的儀器性能,Zn in 5% H2SO4BEC < 2 ppt,As in 200ppm CaBEC < 10 ppt,Cu in 1:10 CASS-4, Certified 0.0592+/-0.0055 ppbMeasured 0.0583 ppb,3rd Generation CCT –
26、典型 BEC值和撿出限值,Enhanced collision cell for ultimate detection of interfered elements- the power of p extraction optics for CCT analyses,40Ca,56Fe,惰性進樣系統(tǒng),Two fully inert sample introduction kits are available- Second gen
27、eration, inert, high purity, polypropylene, single-pass conical impact bead spray chamber- ESI high performance double-pass, PFA spray chamberAqueous, organic and HF solution,標準惰性進樣系統(tǒng),Second generation, inert, hig
28、h purity, polypropylene, single-pass conical spray chamber Semi-demountable quartz torch, providing corrosion resistance to HF when used with one of the following inert injectors- Alumina, Sapphire or Platinum injecto
29、rCompatible with a wide range of inert nebulizersRapid washout characteristics,高性能惰性進樣系統(tǒng),Inert, high purity, PFA, double-pass spray chamber Semi-demountable quartz torch, providing corrosion resistance to HF when use
30、d with one of the following inert injectors- Sapphire injector- Platinum InjectorCompatible with a wide range of inert nebulizers,有機和附加氣體選購件,Plug-and-Play mass flow controllers with full computer controlConnection ki
31、ts for oxygen or argon make-up gas additionDiscretely situated at the rear of X SeriesII ICP-MS, taking up no further lab space,軟件,PlasmaLab? Windows® software provides seamless control of all X SeriesII analysis r
32、outines & accessoriesSpreadsheet data entry with copy and paste facility for data transfer to other Windows packagesAuto-tuningIntegral QA/QC with internal or external drift correction ensures data qualityIntegra
33、l TRA for speciation and LA studies,,在線技術(shù)支持,Tech Connect - 遠程診斷FTP Site- Software downloads- Database of Experiment Templates, ACL scripts, Autotune and Performance report files- Consumables catalogue- Contact Us &
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