耐大豆疫霉根腐病QTL定位的研究.pdf

1、分子輔助育種是越來(lái)越實(shí)用的一種育種技術(shù)，在育種實(shí)踐過程中利用分子標(biāo)記對(duì)重要農(nóng)藝性狀進(jìn)行輔助選擇，能夠有效提高育種效率。關(guān)于大豆疫霉根腐病質(zhì)量抗病基因的遺傳定位研究已有大量的報(bào)導(dǎo)，但定位耐大豆疫霉根腐病數(shù)量性狀遺傳位點(diǎn)(QTLs)的研究卻鮮見報(bào)導(dǎo)。鑒于近年來(lái)大豆疫霉根腐病數(shù)量性狀抗性育種在世界各國(guó)得到高度重視，本研究的目的是定位與耐大豆疫霉根腐病相關(guān)的QTLs，用來(lái)指導(dǎo)大豆疫霉根腐病抗病育種工作。該研究以感病品系OX760和耐病品種Con

2、rad及二者雜交所衍生的62個(gè)F2：6重組自交系為材料，調(diào)查兩個(gè)地點(diǎn)和兩個(gè)年份的疫霉根腐病病害損失率；利用1200條RAPD引物和341對(duì)SSR引物對(duì)耐大豆疫霉根腐病進(jìn)行基因定位。在1200條RAPD引物中，清晰可重復(fù)的多態(tài)性標(biāo)記為39個(gè)，占3.25％；在341對(duì)SSR引物中，清晰可重復(fù)的多態(tài)性標(biāo)記為45個(gè)，占13.2％?！　”狙芯坷肕apmaker/EXP3.0b構(gòu)建了大豆分子遺傳連鎖圖譜，SSR和RAPD分子標(biāo)記覆蓋基因組的總長(zhǎng)

3、約3000cM。分子標(biāo)記間的平均距離為29.7cM。分子標(biāo)記主要集中在MLGF、MLGN、MLGD1b+w、MLGM四條染色體組上，這四條染色體上共有36個(gè)分子標(biāo)記，占總標(biāo)記數(shù)35.6％。其中標(biāo)記最密集的兩條染色體是MLGF和MLGM，各有10個(gè)標(biāo)記?！　”狙芯坎捎肳inQTLCart(V2.0)軟件進(jìn)行QTL分析，LOD值大于2.0作為QTL存在的閾值，共發(fā)現(xiàn)分屬于MLGD1b+W和MLGM連鎖群的4個(gè)與耐大豆疫霉根腐病顯著相關(guān)的分

4、子標(biāo)記，即：OPL18-800bp、OPN03-600bp，Satt536和Satt463。其對(duì)病害損失率的貢獻(xiàn)率為13.34％到22.31％。與4個(gè)分子標(biāo)記相對(duì)應(yīng)的共有3個(gè)QTL位點(diǎn)，即：QPRR-1(QOPL18-800bp)，QPRR-2(QOPN03-600bp)和QPRR-3(QSatt536-Satt463)。其中QPRR-1和QPRR-2經(jīng)多重QTL計(jì)算，對(duì)兩年(2000年和2001年)和兩點(diǎn)(Woodslee和Weave

5、r)平均總病害損失率的貢獻(xiàn)率為44.5％，而QPRR-3對(duì)2001年Woodslee試驗(yàn)點(diǎn)病害損失率的貢獻(xiàn)率為15.2％。QPRR-1對(duì)2000年Woodslee試驗(yàn)點(diǎn)的病害損失率貢獻(xiàn)率為21.55％，對(duì)2000年Wever試驗(yàn)點(diǎn)的病害損失率貢獻(xiàn)率為16.71％，對(duì)兩年(2000年和2001年)及兩點(diǎn)(Woodslee和Weaver)平均總病害損失率的貢獻(xiàn)率為22.31％。本試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)數(shù)個(gè)在大多數(shù)生態(tài)環(huán)境條件下能重復(fù)出現(xiàn)的QTLs，可以作